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微电子功能测试和参数测试

  • 应对最新的微电子测试挑战

    雷达、卫星通信和电子战等现代任务系统不断突破性能和复杂性的界限。为了满足这些任务参数，人们越来越依赖尖端RF和数字微电子技术。这就需要复杂的混合I/O测试平台，从功能参数测试扩展到系统验证。测试工程师需要敏捷反应并适应复杂且不断变化的待测设备，更大限度地提高测试设备的效率，领先市场需求一步。

 
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降低风险并加速项目交付

为了克服这些新出现的复杂待测设备带来的挑战，NI推出了多种硬件和软件工具，有助于测试工程师开发满足高混合、低容量需求的测试系统，并为未来的应用提供更大的可扩展性。这种新方法将高性能测试设备与关键测量IP相结合，大幅降低了资金成本，有助于更快地捕捉到更优质的数据，并以出色的测量速度和质量同时运行多个测试用例。

解决方案推荐

验证电子扫描阵列组件和模块

电子扫描阵列(ESA)特性分析参考架构旨在简化新一代电磁系统（如AESA雷达）中使用的微电子组件和模块的验证过程。该参考架构可以帮助提高测试开发效率、扩大测试覆盖范围并降低测试的总体成本。

ESA参考架构

DC转RF

NI的测量覆盖范围从DC到毫米波（涵盖L到Ka频段），可确保为您的整个测试计划提供恰当的测量覆盖范围。

次纳秒级同步

为基带和RF仪器实现次纳秒级精度的紧密同步，从而为RF和基带I/Q测试打造完整的解决方案。

高瞬时带宽

NI RF仪器提供高达1 GHz的瞬时带宽，非常适合测试雷达、电子战和卫星通信的关键系统组件和模块。

统一的软件体验

NI的解决方案具有可用于系统开发和调试的易用型、交互式接口面板，以及可用于部署特性分析和生产测试系统的自动化API，因而能够在整个设计周期提供完整、统一的软件体验。

相关产品和解决方案

与NI合作伙伴合作

NI合作伙伴联盟是一个由领域、应用和测试专家组成的全球性社区，这些专家与NI合作，可满足您的各种需求。NI合作伙伴联盟囊括了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务渠道和销售渠道专家，他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验，值得您信赖。

Additional Resources

Design and Test Challenges of the Modern Electronically Scanned Array

The ESA is the foundation for many applications in aerospace and defense. Learn about the design life cycle and test challenges associated with modern ESA devices and get insights into the future evolution of ESA applications.
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Test Methodologies for Modern Transmit Receive Modules

Learn about the architecture of the modern T/R module and investigate the key testing methodology and measurement best practices required to fully characterize and test these advanced components.
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