使用STS测试RF课程概述
《使用STS测试RF》课程将介绍典型的客户工作流程及要点，其中包括标准STS RF硬件的使用方法。完成本课程后，RF测试开发人员将能够交互地使用STS RF资源来创建、修改、执行和调试基于RF配置的测试程序。本课程建立在《使用STS开发测试程序》和《STS和.NET/C#测试代码模块开发》课程中所涵盖的STS基础知识之上。
课程形式
课程目标
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了解STS RF子系统的组件、功能和用途
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连接到RF DUT并测试其连续性
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使用半导体测试自动化框架(STAF)创建RF STS项目
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使用InstrumentStudio和跟踪查看器监控和调试RF STS项目
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使用缩短测试时间(TTR)技术提升RF测试系统性能
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遵循发布RF STS程序以投产的最佳实践
课程详情
课程时长
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随选课程：4.5小时
课程受众
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正在使用或评估标准RF NI半导体测试系统(STS)以开发和执行RF IC测试的半导体测试开发人员
前提条件
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对半导体测试策略和方法有宏观的了解
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《STS测试程序开发》课程
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《STS和.NET/C#测试代码模块开发》课程
使用的NI产品
如需参加随需课程：
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半导体测试系统(STS)
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STS Software Bundle 25.0
培训材料
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随需培训包括通过NI培训中心提供的数字教材，供订阅期间使用
以积分计价
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随需课程：已包含在软件订阅和企业协议中，或通过5个培训服务积分或2个培训学分获得
使用STS测试RF课程大纲
| 课程 | 概述 | 主题 |
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| 探索RF STS硬件 | 识别STS RF子系统的组件及其功能。 |
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| RF STS校准简介 | 识别RF STS校准的主要类别，了解测试头校准的详细操作。 |
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| 探索RF DUT | 探索RF待测设备(DUT)和设备接口板(DIB)，后者用于实现DUT与STS仪器之间的连接。 |
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| 连接RF DUT到测试仪 | 利用DUT设置文档创建引脚图，以便测试测量软件识别DUT引脚与STS仪器的连接。 |
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| 搭建RF DUT | 使用STS仪器为DUT上电并测试DUT引脚的连续性。 |
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| DUT级校准工作流程与工具 | 将系统校准扩展到DUT，确保测试测量的准确性。 |
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| 探索创建RF STS测试程序的流程 | 说明半导体测试自动化框架的目的，学习新建RF STS测试序列的高层工作流程。 |
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| 探索STAF的组成部分 | 识别STAF各组件，说明它们在创建RF STS测试程序中的用途。 |
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| 创建新的RF IC测试序列 | 使用STAF和TSRU组件创建新的RF STS测试序列。 |
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| 使用InstrumentStudio进行调试 | 浏览STS基本调试技巧，探索通过InstrumentStudio调试RF仪器的方法。 |
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| 使用跟踪查看器进行调试 | 浏览运行时数据查看器的使用，了解如何利用跟踪查看器调试RF STS测试程序。 |
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| 缩短RF STS测试时间 | 浏览一般STS缩短测试时间技术，研究RF STS测试特有的技术。 |
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| 发布RF STS测试程序以供生产使用 | 执行有助于测试程序发布到生产环境的任务。 |
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进阶课程
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