使用数字码型仪器进行设备测试课程将为测试和验证工程师介绍如何使用数字码型仪器进行半导体设备的特性分析和生产测试。本课程的重点在于如何使用数字码型仪器和数字码型编辑器进行设备测试，侧重于介绍DUT通信、数字接口测试以及连续性和泄漏测试。从校准和调试到将测试扩展为测试执行程序，本课程将逐一为您讲解完整的测试流程。
随选课程，4小时
需要进行半导体设备特性分析和生产测试的测试工程师
无
NI PXIe数字码型仪器
NI数字码型编辑器
创建和编辑将数字码型载入DUT所需的所有元素，包括引脚图、电平表、时序表和码型文件
使用SPI命令，测试DUT的工作模式
通过寄存器回读测试，验证DUT通信
通过与外部测试设备连接，验证DUT时序
通过连续性和泄漏测试，验证DUT引脚连接
利用操作码在码型内建立流控制
使用电压/电流源，并通过捕获波形来简化码型结构并存储数据
将数字码型仪器与系统中的其他仪器同步
使用历史RAM报告、Shmoo图和数字示波器来执行调试活动
校准仪器并纠正任何出现的线缆移位
| 课程 | 概述 | 主题 |
|---|---|---|
| 创建并载入第一个码型 | 配置引脚图、电平表、时序表和码型文件，将数字码型载入到待测设备(DUT)。 |
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| 创建引脚图 | 在数字码型编辑器中创建引脚图，以定义DUT连接站点。 |
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| 创建规格参数表 | 将DUT数据表中的值存储在规格参数表变量中。 |
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| 创建引脚电平表 | 创建引脚电平表，定义DUT的电源电压、端接方式和逻辑电平。 |
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| 创建时序表 | 创建时序表，定义与DUT的接口的时序特性。 |
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| 创建数字码型文件 | 创建码型文件，以与DUT通信并进行测试。 |
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| 通过LabVIEW为数字码型编程 | 使用NI数字码型API以编程方式控制数字码型仪器。 |
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| 测试DUT工作模式 | 使用串行外设接口(SPI)命令配置DUT，测试其工作模式。 |
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| 执行寄存器回读测试 | 执行寄存器回读测试以验证DUT的通信功能。 |
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| 验证DUT时序 | 与外部测试设备连接，验证DUT时序。 |
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| 执行连续性和泄露测试 | 执行连续性和泄露检测，验证DUT引脚连接。 |
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利用流控制提高码型的鲁棒性
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使用可建立流控制的操作码提高码型的鲁棒性。
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使用源波形
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使用串行和并行源波形简化包含变量数据的码型结构。
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使用捕获波形
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使用捕获波形存储接收数据以进行验证和后处理。
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查看历史RAM报告的测试结果
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使用历史RAM报告的结果调试码型或待测设备(DUT)。
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使用数字示波器查看信号
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使用数字示波器查看数字码型仪器(PXIe-657x)引脚上的实际电平。
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使用Shmoo图实现参数关系可视化
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使用Shmoo图迭代码型参数并查看结果。
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与其他仪器同步
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实施共享触发器等同步策略或使用NI-TClk与其他仪器协调任务。
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连线和校准
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补偿电缆歪斜和电压偏置，了解设备校准要求。
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使用操作码进行扫描测试
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使用扫描操作码将矢量分为一个或多个扫描周期。
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