奥斯汀,德克萨斯州—2020年6月3日— NI(Nasdaq:NATI),软件定义平台的领先供应商,致力于加速自动化测试和自动化测量系统的开发进程和性能提升,今日宣布推出全新的半导体芯片功耗测量解决方案,助力工程师测试下一代手机、笔记本电脑、汽车和数据中心计算机。半导体功率和性能验证解决方案提供了所需的仪器、软件和连接性能,可帮助企业获得更深入的洞察力,从而设计更节能的IC并更快将产品推向市场。
“我们所有人都希望增加手机、笔记本电脑和个人电子产品的电池使用寿命。同时也希望电动汽车具有更强的续航能力,此外,我们也在力图降低数据中心的功耗。” NI半导体验证高级总监Jesse Lyles表示:“而所有这些的关键在于降低半导体的功耗。随着市场竞争日益白热化,所有公司都在竞相向市场推出更低功耗的产品,因此他们亟需寻求一种解决方案来帮助他们快速测量和分析功耗数据并迅速做出响应。NI的半导体功率和性能验证解决方案正是为此而生,它提供了一个完整的系统,旨在帮助用户更深入了解其产品并缩短产品设计周期。”
数字万用表(DMM)等传统仪器如果要扩展到数十个甚至数百个通道,代价将是非常高昂的,而低成本数据采集解决方往往准确度不足,无法检测到像休眠电流这样的微弱信号。面对这一进退两难的困境,一些企业选择仅对半导体功率效率进行部分分析,但这同时也意味着他们可能由于不够了解市场而失去市场份额或竞争机会。NI半导体功率和性能验证解决方案提供了一种功能强大的替代方案,可在不牺牲通道数或速度的情况下提供类似于DMM的测量精度。它提供了高性能仪器、灵活的连接选项和基于配置的软件,可让您无需任何编程,即可快速将产品推广上市并确保产品的成功。
解决方案的优势:
请访问ni.com/semipowervalidation,了解有关此解决方案的更多信息。
使用标准的功耗测量解决方案,更快速提供设计反馈,同时加速产品上市
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NI (ni.com)一直致力于开发高性能自动化测试和自动化测量系统,帮助您解决当前和未来的工程挑战。NI软件定义的开放式平台结合模块化硬件和庞大的生态系统,可助您将各种可能性转变为真实的解决方案。