Параметрическое тестирование на пластине

Специалистам по тестированию на пластине требуется сокращение времени тестирования без ущерба качеству и точности измерений.

Интеллектуальный подход к параметрическому тестированию на пластине

Поскольку производители интегральных схем продолжают внедрять новые и инновационные процессы наряду с уменьшением размеров устройств, требуется, чтобы дополнительная сложность этих изменений не повлияла на долгосрочную надежность интегральных схем. Ввиду быстрого развития технологий производители микросхем должны собирать и анализировать больший объем данных о надежности изделий наряду с уменьшением стоимости тестирования. Столкнувшись с проблемой увеличения объема данных при уменьшении затрат, большинство инженеров не в состоянии ее решить и обращаются к настраиваемым модульным решениям, которые могут удовлетворить их потребности.

Брошюра NI по полупроводниковым приборам

Узнайте больше о том, как снизить стоимость тестирования с помощью подхода к тестированию полупроводниковых приборов на основе платформы.

Рекомендуемые материалы

Продукты и решения

NI Partner Network

The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.

Прикладной материал


Комплект документации по платформе PXI

Изучите основы платформы PXI для определения характеристик полупроводниковых приборов с помощью замечаний по архитектуре, соответствующих решений заказчиков и показателей производительности.