Teste paramétrico no nível do wafer

Os engenheiros de teste no nível do wafer precisam realizar testes em tempo cada vez menor, sem sacrificar a qualidade e exatidão de suas medições.

Uma abordagem mais inteligente para o teste paramétrico no nível do wafer

Conforme os fabricantes de circuitos integrados continuam a lançar processos novos e inovadores reduzindo o tamanho dos dispositivos, eles precisam garantir que a complexidade adicional dessas mudanças não afetem a confiabilidade de seus CIs no longo prazo. Com o ritmo cada vez mais acelerado da evolução da tecnologia, os fabricantes de semicondutores precisam aumentar a quantidade de dados confiáveis que coletam e analisam e, ao mesmo tempo, reduzir o custo do teste. Ao se depararem com esse problema de mais dados a um menor custo, muitos engenheiros descobrem que não podem solucionar esse desafio com as soluções tradicionais. Isso faz com que eles busquem soluções modulares flexíveis que podem se adaptar às suas necessidades.​

Brochura de semicondutores da NI

Saiba mais sobre como você pode reduzir o custo do seu teste com uma abordagem baseada em plataforma para teste de semicondutores.

Destaques

Produtos e soluções

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The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.

RECURSOS DE APLICAÇÃO


Kit de recursos para plataformas PXI

Conheça os conceitos básicos da plataforma PXI para caracterização de semicondutores com notas arquitetônicas, estudos de caso relevantes e métricas de desempenho.