최종 웨이퍼 테스트 및 분류 중에 각 다이는 폐기 또는 제품용으로 분류되어 특정 빈에 할당됩니다. 이 과정은 품질과 수익성 사이를 줄다리기 하는 것입니다. 잘못 폐기된 다이는 수익에 영향을 미치고 잘못 배송된 불량 다이는 품질과 브랜드 평판에 영향을 미칩니다. 모든 반도체 작업은 테스트 및 웨이퍼 분류 과정 중 이 두 가지 오류의 균형을 맞춰야 하며 여기에는 데이터를 기반으로 한 품질 결정 절차가 필요합니다.
잘못된 디바이스가 폐기되고 모든 좋은 디바이스가 시장에 출시되도록 하여 전체 수율을 최대 2% 향상
탈출 방지, 이상값 감지, RMA 분석 등을 기반으로 하는 강력한 품질 보장 장치로 고객의 무결점 목표 충족
품질 문제의 근본 원인 분석 가속화를 통해 품질 지표와 제조 결과를 지속적으로 개선
테스트 작업을 모니터링하고 불량 부품 배송을 유발할 수 있는 장비 또는 테스트 관련 문제를 정확히 찾아내는 사전 구축된 규칙 라이브러리를 제공
반품된 장치를 생산 데이터에 연결하여 장애의 근본 원인을 신속하게 파악하고 과거 데이터 분석을 수행하여 제조의 시스템적 문제를 파악
NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞춤화된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.
NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 종합 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.
NI 엔터프라이즈 솔루션은 제품 수명 주기 성능을 향상시키는 아키텍처와 어플리케이션을 제공합니다. NI 서비스 팀은 데이터 과학, 엔지니어링 및 프로젝트 관리 전용 리소스를 제공하여 성공적인 솔루션 배포를 할 수 있도록 완벽한 데이터 매핑 및 집중형 결과물을 통해 사용자를 안내합니다. NI 엔터프라이즈 솔루션에 대해 자세히 알아보면서 서비스 옵션에 대해 NI 담당자에게 문의하십시오.