RFIC 전력 증폭기 테스트

개요

NI에서 FEM(프런트엔드 모듈)의 구성요소이자 가장 필수적인 RF 통합 회로(RFIC) 중 하나인 전력 증폭기(PA)를 배울 수 있습니다.

1부: 전력 증폭기와 프런트엔드 모듈 측정의 기초
엔지니어들은 RF PA의 성능을 특성화할 때 디바이스의 게인, 선형성, 효율성을 이해하기 위해 다양한 측정 및 테스트 방법을 사용할 수 있습니다.

 

2부: 디지털 전치 왜곡 및 다이나믹 전원 공급 조건 하에서 PA 테스트
시스템 설계자들이 선형성 및 효율성에 대한 요구사항을 해결하기 위해 자주 사용하는 방법으로는 선형성을 개선하기 위한 DPD (디지털 전치 왜곡) 등의 선형화 기법, 효율성을 높이기 위한 ET (envelope tracking) 또는 DP (직접 극성) 변조 등의 DPS (다이나믹 전원 공급) 기법이 있습니다.

 

1부 내용:

  • 게인 및 출력 전력
  • 파워 미터로 전력 측정 보정
  • 벡터 네트워크 분석기로 게인 측정
  • 반환 손실 및 역방향 절연
  • 노이즈 수치
  • 노이즈 단위 변환
  • 노이즈 수치 측정
  • 보정된 노이즈 소스를 사용한 Y-팩터 방법
  • 고조파
  • 혼변조 왜곡
  • 혼변조 왜곡의 이론
  • IMD 측정 설정
  • 효율성
  • 드레인 효율
  • 전력 부가 효율

2부 내용:

  • 전력 증폭기의 동작 특성
  • AM-AM 및 AM-PM 측정
  • 메모리 효과
  • 비선형 왜곡의 효과 이해
  • 디지털 전치 왜곡(DPD)
  • 변조된 전송에서 DPD의 효과
  • 메모리 없는 룩업 테이블(LUT)
  • 메모리 있는 PA에 대한 디지털 전치 왜곡
  • 메모리 다형성 모델(MPM)
  • 범용 메모리 다형성 모델(GMP)
  • DPD 조건 하에서 PA 테스트
  • 동적 전원 공급 트랜스미터(envelope tracking)
  • 동적 전원 공급 기법 소개
  • 트랜지스터 수준의 효율성
  • 다이나믹 전원 공급 PA 테스트
  • 동기화 및 정렬 과제 해결