From Friday, April 19th (11:00 PM CDT) through Saturday, April 20th (2:00 PM CDT), 2024, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.

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RF 및 마이크로파 구성 요소 및 모듈 테스트에 대한 위험 절감

수동 및 능동 전자 스캔 배열(ESA)은 최신 레이더 및 SATCOM 어플리케이션에서 전자기 스펙트럼을 활용하고 방어하는 데 필수적 역할을 합니다. 임무의 성공은 이러한 시스템 내 RF 및 마이크로파 반도체 부품의 특성화와 생산 테스트를 중심으로 이루어집니다. 이 분야의 기술 혁신은 다음과 같은 중대한 설계 및 테스트 문제를 야기하고 있습니다.

최신 GaN 프로세스 기술을 기반으로 하는 보다 효율적인 고전력 RF 디바이스
점차적으로 더 넓은 대역폭을 사용하며 점점 더 복잡해지는 RF 부품 및 모듈
주파수 민첩성 및 다중 대역 어플리케이션을 처리하기 위한 다중 채널 RF 프런트엔드
더 많은 RF 채널 및 고속 디지털 I/O 통합
다기능 어플리케이션 요구 사항을 충족하는 소프트웨어 정의 디지털 처리 기능

전자 스캔 배열(ESA) 특성화 참조 아키텍처

혼합 I/O 테스트 어플리케이션을 위한 DC, RF 및 디지털 인터페이스 요구 사항의 광범위한 적용 범위
구성 요소, 모듈 및 서브 어셈블리 테스트를 위한 확장 가능한 구성
펄스 대 펄스 안정성 및 S-파라미터를 포함한 레이더 구성 요소 검증에 최적화된 펄스 측정
테스트 시스템 및 어플리케이션 개발, 디버깅 및 배포를 위한 통합 소프트웨어
RFmx 및 InstrumentStudio 소프트웨어를 통한 추가 측정 가능

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NI 솔루션의 장점

NI의 모듈식 플랫폼을 활용하여 다종 소량 요구 사항을 충족하는 테스트 시스템 개발
기존 장비에 비해 고성능 테스트 장비를 사용하여 자본 비용이 대폭 감소

NI의 선도적인 측정 속도와 품질로 더 나은 데이터를 더 빠르게 캡처하고 여러 테스트 케이스를 동시에 실행

“차세대 위상 배열 기술을 연구하는 팀은 극심한 시장 압력에 직면해 있습니다. 기술 발전으로 인해 이전 세대보다 짧은 시간에 해결해야 하는 새로운 테스트 시나리오가 만들어지며, 기존 접근 방식은 위험을 더하는 데다 이러한 문제를 해결할 확장성이 부족했습니다. 전자 스캔 배열 특성화 참조 아키텍처를 통해 팀은 차세대 위상 배열 및 그 구성 요소를 시장에 나와 있는 기존 솔루션보다 확장 가능한 방식으로 자신 있게 검증하고 테스트할 수 있습니다."

–Luke Schreier, SVP 및 GM, 항공우주, 국방 및 정부 BU, NI

NI 에코시스템에서 나만의 솔루션 구축

NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.

NI 파트너 네트워크

NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 전체 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.