마이크로전자 기능 및 파라미터형 테스트

위험 절감 및 프로그램 결과물 가속화

이러한 새롭고 복잡한 DUT가 야기하는 문제를 극복하기 위해 NI는 테스트 엔지니어가 혼합형이고 규모가 적은 요구사항을 충족하고 미래 어플리케이션을 위해 더 많은 확장성을 제공하는 테스트 시스템을 개발할 수 있도록 하는 여러 하드웨어 및 소프트웨어 도구를 제공합니다. 당사의 새로운 접근 방식은 주요 측정 IP와 결합된 고성능 테스트 장비를 사용하여 자본 비용을 크게 줄여, 업계 최고의 측정 속도 및 품질로 더 나은 데이터를 더 빠르게 캡처하고 여러 테스트 사례를 동시에 실행할 수 있게 합니다.

주요 솔루션

전자 스캔 배열 구성요소 및 모듈 검증

ESA (Electronically Scan Array) 특성화 참조 아키텍처는 AESA 레이더와 같은 차세대 전자파 시스템에서 사용되는 마이크로전자 부품 및 모듈의 검증을 단순화하도록 설계되었습니다. 이 참조 아키텍처는 테스트 개발 효율성을 높이고 테스트 범위를 늘리며 전체 테스트 비용을 줄이는 데 도움이 될 수 있습니다.

ESA 참조 아키텍처

ESA 특성화 참조 아키텍처

ESA 특성화 참조 아키텍처는 특성화 및 테스트 엔지니어가 ESA 시스템의 개별 요소에 대해 펄스 RF 측정을 수행할 수 있는 고수준의 시작점을 제공합니다.

DC에서 RF까지

NI의 측정 범위는 DC에서 mmWave까지로 L에서 Ka 대역까지 포함하여 전체 테스트 계획에 적합한 측정 범위를 보장합니다.

나노초 미만 동기화

기저대역 및 RF 계측기를 나노초 미만 정확도로 긴밀하게 동기화하여 RF 및 기저대역 I/Q 테스트를 위한 완전한 솔루션을 제공합니다.

폭넓은 순간 대역폭

최대 1GHz의 순간 대역폭을 제공하는 NI RF 계측은 레이더, 전자전 및 위성 통신을 위한 주요 시스템 구성요소 및 모듈의 테스트에 적합합니다.

통일된 소프트웨어 경험

시스템 개발 및 디버깅을 위한 사용하기 쉬운 대화식 인터페이스 패널과 특성화 및 생산 테스트 시스템 배포를 위한 자동화 가능한 API를 통해 NI 솔루션은 설계 주기 전반에 걸쳐 완전하고 통일된 소프트웨어 경험을 제공합니다.

NI 파트너와 협력하기

NI 파트너 네트워크는 여러분의 요구사항을 충족하기 위해 NI와 협력하는 도메인, 어플리케이션 및 테스트 전문가의 글로벌 커뮤니티입니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.

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