첨단 EO/IR 이미징 시스템 테스트 시간 및 복잡성 단축

FPA(초점 평면 배열) 시스템은 일기 예보, 안전, ISR, 전술 방어 시스템 등의 모든 운영 영역에서 사용됩니다. FPA 엔지니어는 고해상도, 신뢰성 및 감도를 갖춘 향상된 이미징 시스템 성능을 위해 설계합니다. 정해진 시간과 예산 내에 마치기 위해 엔지니어는 사용자 정의의 필요성과 표준화의 요구 사이에서 균형을 유지하면서 요구사항에 맞춰 설계, 테스트 및 변경하는 효율적 방법을 찾아야 합니다. 다음은 FPA 테스트 엔지니어가 직면하고 있는 몇 가지 과제입니다.

유연하고 표준화된 테스트 솔루션을 통한 프로그램 배포 일정 단축
공통 테스터로 광범위한 I/O 타입 및 디바이스 테스트
최신 EO/IR 판독 IC(ROIC) 기술을 위한 맞춤형 인터페이스 프로토콜
IDCA(Dewar-Cooler Assembly) 통합 전후로 병렬 하위 시스템 개발 및 테스트 지원
파라미터에서 전체 시스템 수준 검증에 이르는 테스트 기능 제공

EO/IR 이미징 검출기 시스템 테스트 솔루션

PXI Express, LabVIEW 및 TestStand가 포함된 소프트웨어 연결 테스트 시스템으로 단일 시스템에서 모든 I/O 및 측정 유형 지원
일반적 데이터 및 제어 인터페이스 지원: RS422, SpaceWire, MIL-STD-1554, SRIO(Serial RapidIO®), XAUI, Aurora, 10GbE 등
PXI Express SMU 기술을 사용한 고감도 FPA 바이어스 인터페이스에 대한 정밀 테스트
LabVIEW FPGA를 사용하는 고속 시리얼 계측기와 맞춤형 ROIC 인터페이스를 위한 맞춤형 FPGA 기능

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NI 솔루션의 장점

공통 플랫폼을 사용하여 IP 및 모범 사례를 재사용을 통해 테스트 엔지니어링 팀의 효율성 향상
FPGA 평가 보드에서 설계된 맞춤형 테스트 시스템의 노후화 및 유지 보수 문제 감소
유연하고 개방적인 모듈형 계측기를 통해 확장할 수 있도록 표준화된 플랫폼을 사용하여 프로그램마다 테스터를 처음부터 재설계할 필요가 없습니다.

단일 하드웨어 및 소프트웨어 솔루션 아래로 테스트 시스템 통합
파라미터 측정에서 전체 시스템 수준 검증에 이르기까지 모든 범위의 테스트 요구 사항 해결

Viewpoint Systems의 AEDIS FPA 테스트 아키텍처

최신 FPA 테스트 시스템

Viewpoint Systems는 FPA 데이터 인터페이스 에뮬레이션 및 데이터 인터페이스 캡처 기능을 위해 NI의 유연한 모듈형 계측기를 사용합니다. AEDIS 아키텍처를 사용하면 대다수 EO/IR 테스터에서 일반적으로 사용되는 사전 구축 구성요소를 통해 개발 시간을 단축하고 동시에 사용자가 지정한 요구사항에 맞게 조정할 수 있습니다.

NI 에코시스템으로 솔루션 구축

NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.

Viewpoint Systems

EO/IR FPA 시스템 테스트 분야를 선도하는 전문 기업인 Viewpoint Systems와 상담하십시오. Viewpoint Systems의 Aedis 플랫폼은 고대역폭, 고채널 이미징 하위 시스템을 테스트하기 위한 FPA 에뮬레이션 및 수집 시스템입니다. 25년 이상의 NI 기술 경험을 바탕으로 Viewpoint Systems는 이상적인 FPA 테스트 솔루션을 구성하고 개발하는 데 도움을 드릴 수 있습니다.