From 04:00 PM CDT – 08:00 PM CDT (09:00 PM UTC – 01:00 AM UTC) Tuesday, April 16, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
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STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 교육과정에서는 DUT (Device Under Test)와 통신하기 위한 반도체 테스트 시스템 (STS)을 설정하고 사용하는 실습 교육을 제공합니다. 이 교육과정은 일반적인 반도체 테스트 작업 흐름 및 이정표를 따르며, 여기에는 해당 하드웨어와의 긴밀한 상호 작용이 포함됩니다. 이 교육과정을 이수한 테스트 엔지니어는 대화식으로 STS 테스터 리소스를 사용하여 테스트 데이터 및 테스트 시간 리포트 수집을 위한 (LabVIEW 또는 .NET/C#을 사용하여 개발한) 기존의 코드 모듈로 테스트 프로그램을 작성, 수정, 실행 및 디버깅할 수 있습니다.
교육과정 최종 출시일 또는 버전 번호: 온디맨드: 23.0
주문형: 5시간
반도체 생산 테스트 또는 고용량 자동화 디바이스 검증을 수행하기 위해 NI 반도체 테스트 시스템 (STS)을 사용하거나 평가하는 반도체 테스트 엔지니어
반도체 테스트 전략 및 방법에 대한 일반 지식
일반적인 컴퓨터 사용 능력
기본 테스트 엔지니어링 지식
STS 소프트웨어 번들
STS (반도체 테스트 시스템)
강사가 진행하는 버추얼 교육은 NI 학습 센터를 통해 제공되는 디지털 교육과정 자료를 포함합니다.
NI 버추얼 강사 진행 교육은 Zoom을 통해 제공되며, 수강생은 Amazon AppStream/LogMein을 사용하여 최신 소프트웨어가 장착된 가상 머신에서 연습문제를 수행할 수 있습니다.
혼합 신호 반도체 디바이스를 테스트하기 위한 STS 설정 및 구성하기
DUT와 통신하기
STS 테스터 리소스를 활용하여 사전 작성된 코드 모듈로 테스트 프로그램을 대화식으로 작성, 수정, 실행 및 디버그하기
테스트 프로그램 아키텍처를 설명하고 수정하며 실행 흐름 설정하기
디버그 패널로 디바이스, 신호 및 테스트 시퀀스 디버깅하기
테스트 데이터 수집 및 테스트 리포트 생성하기
테스트 시간 벤치마킹하기
| 강의 | 개요 | 토픽 |
|---|---|---|
| STS 소개 | 반도체 테스트 시스템 (STS)의 주요 개념을 살펴봅니다. |
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| 테스트 헤드 살펴보기 | STS 테스트 헤드의 상위 레벨 기능과 I/O를 살펴봅니다. |
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| 로드 보드 살펴보기 | 디바이스 인터페이스 보드 (DIB)의 상위 레벨 기능과 다양한 로드 보드 인터페이스 유형을 살펴봅니다. |
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| STS와 도킹 및 연결하기 | 일반적인 테스트 셀의 토폴로지를 설명하고 STS를 도킹하는 여러 방법을 살펴봅니다. |
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| NI STS 소프트웨어 살펴보기 | STS와 STS용 테스트 개발 및 코드 모듈 개발 환경을 모니터링, 유지, 디버그 및 교정하는 소프트웨어 도구를 살펴봅니다. |
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| 테스트 개발자 작업 흐름 탐색하기 | 샘플 테스트 개발자 작업 흐름과 그 주요 단계를 살펴봅니다. |
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| STS 안전 요구사항 및 스펙 조사하기 | STS 시스템의 안전 요구사항 및 스펙, 안전 규정 준수 및 환경 스펙을 살펴보고 적용합니다. |
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테스터 계측 살펴보기 | STS PXI 플랫폼 및 일반적인 STS 계측을 살펴봅니다. |
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| 시스템 스펙 살펴보기 | STS T1, T2, T4 입출력 스펙을 살펴봅니다. |
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| STS 교정하기 | STS 시스템에서 사용되는 교정 모듈과 교정 유형을 살펴봅니다. |
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| STS 프로젝트 생성하기 | 테스트 프로그램을 생성하고 테스트 프로그램을 위해 생성된 시퀀스 파일 및 폴더 구조를 살펴봅니다. |
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| 핀 맵 살펴보기 | 핀 맵의 목적과 STS 하드웨어를 DUT 핀에 매핑하는 핀 맵의 역할을 살펴봅니다. |
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| 테스터 설정 및 로드 보드 회로도 검토하기 | 표준 테스터의 문서 그리고 그 내용과 목적을 살펴봅니다. |
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| 측정 요구사항 매핑하기 | 시스템과 장비된 계측기가 테스트 계획의 측정 요구사항을 충족할 수 있도록 측정 요구사항을 매핑합니다. |
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| DUT 핀을 계측기 채널에 매핑하기 | 핀 맵 편집기를 사용하여 DUT 핀을 계측기 채널에 맵핑하는 핀 맵 파일을 생성하고 수정합니다. |
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| 디바이스 인터페이스 보드를 사용하여 DUT와 연결하기 | 계측기를 디바이스 인터페이스 보드 (DIB)에 연결하는 다양한 방법에 대해 살펴보고 로드 보드를 설계하는데 사용할 수 있는 리소스를 식별합니다. |
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| DUT 연속성 확인하기 | 디지털 패턴 계측기를 사용하여 다른 테스트를 실행하기 전에 DUT의 연속성을 테스트합니다. |
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| DUT 가동하기 | 디지털 패턴 편집기를 사용하여 테스트를 시작할 수 있도록 DUT (Device Under Test)를 가동합니다. |
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| 누출 전류 측정하기 | 다른 테스트를 실행하기 전에 디지털 패턴 계측기를 사용하여 DUT의 누출 전류를 측정합니다. |
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| DUT와의 통신 준비하기 | 디지털 프로젝트와 연관된 파일 타입을 확인하고 DUT와 통신하기 위해 디지털 패턴을 생성하기 전에 생성해야 하는 파일을 설명합니다. |
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| DUT와 통신하기 위한 기본 디지털 패턴 생성하기 | 디지털 패턴 편집기를 사용하여 기본 디지털 패턴을 생성, 편집, 로드 및 버스트하여 DUT와 통신합니다. |
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| 기존 디지털 패턴 변환하기 | 디지털 패턴 편집기에서 사용하기 위해 다른 환경에서 개발된 패턴을 변환합니다. |
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| 테스트 시퀀스 파일 살펴보기 | 테스트 시퀀스 파일의 주요 구성요소와 각 구성요소의 사용 방법을 살펴봅니다. |
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| 테스트 시퀀스에 단계 추가하기 | 테스트 시퀀스에 단계를 삽입하는 방법을 살펴봅니다. |
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| 테스트 단계 생성 및 설정하기 | STS 프로젝트에서 코드 모듈을 호출하는 테스트 단계를 생성하고 설정합니다. |
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| 테스트 단계 템플릿 사용하기 | 사용 가능한 다양한 단계 템플릿과 이를 테스트 시퀀스의 일부로 사용하는 방법을 살펴봅니다. |
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| TestStand 실행 제어하기 | 테스트 시퀀스를 실행하고 테스트 조건이나 셋팅에 따라 다르게 실행되도록 테스트 시퀀스를 수정합니다. |
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| 테스트 한계 설정하기 | 테스트 제한을 생성, 탐색 및 반입하여 다양한 시나리오에 대한 테스트 시퀀스를 신속하게 업데이트합니다. |
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| 테스트 설정 생성하기 | 테스트 프로그램 편집기와 테스트 요구사항을 사용하여 시스템의 테스트 설정을 생성합니다. |
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| 테스트 결과를 기반으로 DUT 비닝하기 | 테스트 결과를 기반으로 DUT를 분류하고 비닝 전략을 구현하는 다양한 방법을 살펴봅니다. |
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| 테스트 프로그램 실행 설정하기 | 테스트 개발 환경에서 테스트 프로그램을 설정하고 실행합니다. |
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| 테스트 리포트 생성하기 | NI TestStand에서 결과 집합 및 테스트 보고 전략을 구현합니다. |
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| 테스트 프로그램 디버깅하기 | 내장된 TestStand 기능을 사용하여 테스트 시퀀스의 문제를 식별하고 수정합니다. |
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| 디버깅 시나리오 살펴보기 | 여러 예상치 못한 상황에서 테스트 프로그램을 디버그합니다. |
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| 테스트 시간 벤치마킹하기 | 코드 실행 속도를 제한하는 문제를 식별하고 해결합니다. |
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| 테스터 리소스와 상호작용하여 문제 디버깅하기 | InstrumentStudio를 사용하여 테스터 리소스와 상호작용하여 테스트 문제를 디버그합니다. |
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| 디지털 패턴 편집기를 사용하여 디버깅하기 | 디지털 패턴 편집기 (DPE) 내 도구를 사용하여 테스트 실패를 더 자세히 디버깅합니다. |
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| STS 운영자 인터페이스로 시퀀스 실행하기 | NI 반도체 테스트 운영자 인터페이스 (OI)를 사용하여 테스트 프로그램을 실행하고 실제 소켓 시간을 얻습니다. |
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