반도체

반도체 기술이 발전하면서 아날로그 및 혼합 신호, RF 테스트에 기존의 ATE에서는 제공되지 않는 기능이 요구됩니다. 이에 반도체 엔지니어는 비용, 확장성, 설계, 장비의 문제점을 해결해주는 스마트 솔루션이 필요합니다.

유연한 반도체 테스트 솔루션

우리가 사용하는 디바이스가 보다 스마트해지고 소프트웨어 중심으로 운영됨에 따라, 스마트 디바이스의 핵심인 반도체 업계에서는 IC의 설계 및 생산 방식뿐 아니라 테스트 방식까지 변화를 시도하고 있습니다. 스마트 디바이스의 유형에 관계 없이 비지니스 성공 요건은 동일합니다. IC 제조업체들은 보다 통합된 기능을 제공하고 미션 중심 어플리케이션의 신뢰성을 최대한 보장해야 하며 비용 경쟁력을 유지하면서도 시장 출시 시간을 단축해야 합니다. NI는 실험에서 양산 현장까지 확장되며 IC 제조업체들의 비지니스 요구를 충족시키는 스마트한 테스트 솔루션을 제공합니다.

주요 내용

광대역 5G 디바이스 테스트의 5가지 과제

 

광대역 5G 디바이스를 설계하고 테스트하는 엔지니어들이 새로운 칩 디자인의 신뢰성을 보장하기 위해서는 빠르고 정확하며 비용 효율적인 테스트 솔루션이 필요합니다. 광대역 5G IC 테스트시 마주하게 되는 주요 테스트 과제 및 솔루션에 대해 알아보십시오.

 

DC 측정 성능 극대화를 위한 5가지 우수 사례


전원 관리 IC 또는 RF 전력 증폭기를 테스트하는 경우, 품질이 우수한 DC 측정은 반도체 칩 테스트의 초석입니다. 모범 사례를 적용하여 측정 정확도와 제품 품질을 개선하십시오.