PXIe-5185/5186におけるデータのグリッチ破損問題を修正するNI-SCOPEパッチ

ハードウェア: Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PXIe-5185, Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PXIe-5186

問題: NI PXIe-5185/5186でデータを集録中に、返されたデータにスパイクやグリッチが見られることがあります。これはどうしてですか。

解決策:
ナショナルインスツルメンツでは、NI PXIe-5185/5186のデジタイザで集録されるデータに破損したサンプルが含まれる問題を修正しました。破損データは、任意の振幅で1つまたはそれ以上の単一サンプル波形として不連続に発生します。この問題はNI-SCOPE 14.1以前で発生します。破損データは、デジタイザが垂直オフセット設定の近くでデータをサンプリングし、ハーフコードADC境界内でサンプルが連続的に繰り返し交差移動する場合に間欠的に発生します。不連続性は集録したデータからは識別できない場合もありますが、動作温度が高い場合により頻繁に発生します。

以下の図には、この問題のデータグリッチが示されています。

図1: 単一サンプルのデータグリッチ（スケールされたデータ）

図2: 複数のデータグリッチ（ADCコード）

この問題の間接的原因は、最初に使用されたADCのサンプリングエンコーディングです。連続的サンプリングでハーフコードADC境界を交差する場合、サンプルのすべてのビットが繰り返しトグルされます。この問題は、異なるサンプルエンコーディング（グレーコーディング）を使用することで解消されました。

この問題を解決するために、ナショナルインスツルメンツではNI-SCOPE 14.1用パッチをインストールするよう推奨しています。このパッチには、NI PXIe-5185/5186デバイスに特定のソフトウェアコンポーネントが含まれています。その他のデバイスはこのパッチに影響されません。NI-SCOPE 14.1以前のバージョンをお使いの場合は、このパッチをインストールする前に、必ずNI-SCOPE 14.1にアップグレードしてください。

関連リンク: ドライバと更新: NI-SCOPE 14.1.1パッチ

添付:

報告日時: 07/08/2015
最終更新日: 07/08/2015
ドキュメントＩＤ: 6XJ8P90S