ホーム ソリューション 半導体ソリューション 大量生産向け半導体製造テスト RFIC用コスト最適化PXI製造テストシステム

​RFIC用コスト最適化PXI製造テストシステム

半導体メーカーは、RF製造テスト戦略を選択する際に、複雑さ、コスト、スループットのバランスを考慮する必要があります。RFデバイスでは、より広い帯域幅と高周波数にわたる正確で時間依存の測定が必要で、マージンの縮小にはテスト時間の短縮と拡張性の高いソリューションが必要です。

 

アプリケーション要件

  • ​​高速、高精度RF測定（EVM、ACP、高調波歪み）
  • ​大量生産をサポートするスケーラブルなアーキテクチャ
  • ​カバレッジと確度を維持しながらテスト時間を短縮
  • ​進化するRF規格に適応する柔軟なシステム

NI PXI RF製造テストシステム

  • PXIeシャーシおよびコントローラは、複雑な複数チャンネルRF製造テストシステムで高スループット処理および同期を実現します。
  • ベクトル信号トランシーバ (VST) は、RF生成と解析を組み合わせたもので、最大ミリ波周波数までの広帯域測定を可能にしながらフットプリントを削減します。
  • PXI VNAおよびデジタル計測器を使用すると、単一のプラットフォームでSパラメータ、高調波、および制御インタフェースを同時にテストできます。
  • モジュール式SMUおよびDAQは、正確な電力制御と同期された補助測定を提供し、マルチDUTおよびシステムレベルの検証をサポートします。

生産規模を拡大?ターンキーRF ATEの詳細

NI 半導体テストシステム - RF製造テスト用、大量生産の環境向けに構築されたターンキー半導体ATEプラットフォームです。RF、ミックスドシグナル、およびMEMSデバイスのマルチサイトテスト、機械的統合、および事前検証済みのワークフローによりスループットを最適化します。

ソリューションの特長

  • モジュール式アーキテクチャにより、過剰にプロビジョニングされた計測器の使用を回避して設備投資を最小化

  • 高スループットRF測定により、製造におけるテスト全体のコストを削減

  • 新しい標準と進化するデバイス要件に適応する柔軟なプラットフォーム

  • スケーラブルなシステムは、マルチDUT戦略と並列テスト実行をサポート

  • オープンソフトウェア環境により、迅速なテスト開発と最適化が可能

NIのエコシステムでソリューションを構築する

NIでは、アプリケーション固有の要件に合わせてカスタマイズされた、様々なソリューション統合オプションを提供しています。独自の社内統合チームでシステムを完全制御することも、NI、および世界中のNIパートナーネットワークが持つ専門技術を生かしてターンキーソリューションをご利用いただくことも可能です。

NIパートナーネットワーク

NIパートナーネットワークは、ドメイン、アプリケーション、および全体的なテスト開発エキスパートがNIと緊密に連携してエンジニアリングコミュニティのニーズを満たすグローバルコミュニティです。NIパートナーは、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者、幅広い産業やアプリケーション分野に精通したサービスおよび販売チャネルの専門家です。

サービスとサポート

NIは、トレーニング、技術サポート、コンサルティングと統合サービス、メンテナンスプログラムによって、アプリケーションのライフサイクル全体を通してお客様との緊密な関係を築きます。お客様のチームは、NIの地域別ユーザグループに参加することで新たなスキルを発見でき、オンライントレーニングおよび対面型トレーニングで習熟度を高めることができます。

​RF製造テスト戦略の詳細を見る​

このホワイトペーパーでは、PXIとATEのアプローチの比較、システムアーキテクチャの確認、コスト、拡張性、およびパフォーマンスに関するRFテストの最適化方法について説明します。

NIパートナーは、日本アライアンスプログラムに参加しているシステムインテグレータを中心としたパートナー企業で、代理店の関係は有していません。また、NIとのいかなる取引関係にも属しません。