マイクロエレクトロニクス機能およびラメトリックテスト

リスク軽減し、プログラム成果加速する

こうした新しい複雑なDUTがもたらす課題を克服するため、NIは数々のハードウェアおよびソフトウェアツールを提供しています。テストエンジニアはこれらを利用することで、多品種少量のニーズに対応し、将来のアプリケーションへのスケーラビリティを高めるテストシステムを開発できます。NIの斬新なアプローチにより、高性能テスト装置を主要な測定IPと組み合わせて使用することで資本コストを大幅に削減することができます。そのため、業界最高水準の測定速度と品質で、より高品質のデータをより高速にキャプチャし、複数のテストケースを同時に実行することができます。

注目のソリューション

電子走査アレイコンポーネントおよびモジュール検証する

電子走査アレイ (ESA) 特性評価リファレンスアーキテクチャは、AESAレーダーなどの次世代電磁システムで使用されるマイクロ電子部品やモジュールの検証を簡素化することを目的として設計されました。このリファレンスアーキテクチャを利用すると、テスト開発の効率を高め、テストカバレッジを拡大し、テストの全体的なコストを削減できます。

ESAリファレンスアーキテクチャ

DCからRFまで

NIの測定範囲はDCからミリ波までの範囲に及び、LバンドからKaバンドをカバーしており、テスト計画全体で必要な測定範囲を確保します。

ナノ秒以下の同期

ベースバンドおよびRF計測器をナノ秒以下の精度で厳密に同期させ、RFおよびベースバンドI/Qテストの完璧なソリューションを提供します。

広い瞬時帯域幅

最大1 GHzの即時帯域幅を利用できるNIのRF計測器は、レーダー、電子戦、衛星通信の主要なシステムコンポーネントおよびモジュールのテストに最適です。

すべての機能が統合されたソフトウェア環境

NIのソリューションには、システムの開発やデバッグのための使いやすい対話式インタフェースパネルの他、特性評価システムと本番稼働テストシステムの両方をデプロイするための自動化可能APIが組み込まれており、設計サイクル全体にわたる完璧な統合ソフトウェア環境を提供します。

NIパートナー連携する

NIパートナーネットワークは、ドメイン、​アプリケーション、​テストの専門家で構成される​グローバル​コミュニティです。NIと協力して活動し、お客様のニーズにお応えし​てい​ます。NIパートナーには、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者がいるほか、幅広い産業分野および応用分野に精通したサービスおよび販売チャンネルの専門家が揃っています。

Additional Resources

Design and Test Challenges of the Modern Electronically Scanned Array

The ESA is the foundation for many applications in aerospace and defense. Learn about the design life cycle and test challenges associated with modern ESA devices and get insights into the future evolution of ESA applications.

Test Methodologies for Modern Transmit Receive Modules

Learn about the architecture of the modern T/R module and investigate the key testing methodology and measurement best practices required to fully characterize and test these advanced components.