「外れ値検出ソリューションの活用」コースの概要
品質目標を達成するために、製造プロセス関連の問題に対処します。実証されたPAT (Part Average Testing) アルゴリズムを使用して、複数の操作からのテストデータを統計的に解析し、優良な外れ値ユニットを識別します。事前に定義された母集団を使用して、テストデータに対して外れ値検出アルゴリズムを実行する方法を学習することで、OptimalPlusのスキルを強化します。複数の操作中に、これらのアルゴリズムを単一のルール「レシピ」に統合および組み合わせる方法を学習します。製造にルールが適用されているときに、ユニットを別のビンに自動的に切り替える方法を学習します。
対応するフォーマット
このコースではオンライン形式のトレーニングは利用できません
このコースでは教室形式のトレーニングは利用できません
コースの目標
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外れ値検出ソリューションの価値を説明する
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各アルゴリズムの動作を区別する
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さまざまな仮想操作ルールを設計する
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外れ値検出アルゴリズムを適用した後にルールの結果を解析する
コースの詳細
受講期間
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講師指導による授業:3～4日間
受講対象者
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半導体業界のお客様
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製品の品質と信頼性の向上を担当する責任者向け
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品質エンジニア、テストおよび製品エンジニア、ITシステム管理者、主要ユーザー向けの上級トレーニング
受講条件
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グローバルオペレーション学習パスに関する予備知識
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受講者が実践できる環境
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授業で取り上げるユースケースを集めること
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お客様がVertica環境を使用している場合には情報を提供すること
コースで使用するNI製品
講義形式のコースを受講する場合:
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OptimalPlus SW
トレーニング教材
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NIの講師指導によるオンライントレーニングは、Zoomを使用して配信されます。また、参加者はAmazon AppStream/LogMeinにアクセスし、最新のソフトウェアが搭載された仮想マシンで演習を行うことができます。
外れ値検出ソリューションの活用コースの概要
詳細情報の取得やコース概要のご請求については、カスタマーサクセスマネージャーまたはアプリケーションサポートチームまでお問い合わせください。
メンバーシップにアップグレード
1年以内にNI講師主導のコースを3つ以上受講する予定の方であれば、トレーニングメンバーシップから、すべてのNIの一般教室およびオンライン形式のコースを手頃な料金で無制限に受けられるほか、無制限の認定資格証も受けられます。