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RFIC Test Softwareを使用したRFフロントエンド設計検証コースの概要

RFIC Test Softwareを使用して、テスト対象のRFパワーアンプの性能に制限を設け、仕様を定義します。

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コースの目標

  • ベンチ計測器の構成と初期化

  • 検査対象デバイス (DUT) の設定

  • 刺激波形設定

  • パワーアンプを動的に有効にする

  • 測定の構成と実行

  • 電力センサの設定 ― 出力電力のレベリング (サーボ制御)

  • システム補正パネルを構成する

  • デジタル歪み補正アルゴリズムを使用した線形化

  • MIPI RFFEによるデジタルDUT制御

  • NI DMMを使用したPAE測定の実施

  • 測定結果をファイルに保存する

  • 構成のファイルへの保存と読み込み

  • 周波数および電力のスイープ ― スイープ結果のプロット

  • 相互相関によるEVM測定

  • RFICテスト自動化ウィザードを使用した測定自動化

コースの詳細

受講期間

  • オンデマンド:2.5時間

受講対象者

  • RFIC設計検証エンジニア

受講条件

  • NIは、学生がRFパワーアンプの使用経験があり、ゲイン、電力効率、送信電力、隣接チャンネル漏洩比、エラーベクトル振幅などの一般的なRF測定に熟練していることを推奨します。

コースで使用するNI製品

オンデマンドコースを受講する場合:

  • RFIC Test Software v22.5

  • LabVIEWおよび/またはVisualStudioと.NET Framework

  • TestStand (オプション)

  • PXIシステム

  • VST（PXIe-5646以降）

  • SMU

  • PXIe-6570または6571デジタルカードはオプションです

  • DUT ― 各種セルラーおよびWi-Fi用RFパワーアンプ

トレーニング教材

  • オンデマンドトレーニングでは、NIラーニングセンターから配信されるデジタルコース教材を使用します。サブスクリプションの期間中はNIラーニングセンターにアクセスできます。

RFIC Test Softwareを使用したRFフロントエンド設計検証コースの概要

レッスン概要トピック
ベンチ計測器の構成と初期化適切なベクトル信号トランシーバを選択し、基準レベル、電圧、電流レベル、その他基本的な計測器設定を学び、測定の準備を行います。

  • テストベンチ構成

  • 異なるPXIベクトル信号トランシーバの構成

検査対象デバイス (DUT) の設定検査対象デバイス設定の構成方法について学びます。
  • ゲインの構成
  • RFアンプの要件を満たすターゲット電力設定
刺激波形設定テストで使用する刺激波形の特定構成について学びます。
  • RFIC Test Softwareで使用するワイヤレス標準の定義
  • 波形を取得および復調する設定の構成 
パワーアンプの動的有効化特定のタイミングでパワーアンプを有効化し、動的動作を行うトリガ設定の構成方法について学びます。
  • DUT制御設定のオン/オフ構成
  • 同期デジタル有効ラインの使用 
測定の構成と実行

Wi-Fiや5G NRなど規格固有の測定設定について学びます。

 

最初のパワーアンプ測定を実行します。

  • 最初の測定の実行 
  • 様々な結果の可視化の確認
測定結果のファイルへの保存パワーアンプ測定結果を保存するファイルの作成方法について学びます。
  • パワーアンプ測定結果を保存するファイルの作成 
  • 保存したファイルを閲覧する視覚化ツールの実装
構成のファイルへの保存と読み込み

フロントパネルの全設定を保存する構成ファイルの作成方法について学びます。

 

保存済みの構成を読み込むことで、後続の測定を迅速に開始する方法について学びます。

  • 全フロントパネル設定を保存する構成ファイルの作成
  •  保存済み構成の読み込みで後続測定を迅速開始
周波数および電力のスイープ ― スイープ結果のプロットRFICソフトウェア内蔵スイープ制御を使い、周波数と電力スイープを簡単にする方法を調べます。 
  • RFICソフトウェアの内蔵スイープ制御で周波数と電力スイープを簡単にする
  • 複数の周波数と電力レベルで測定を行う
  • スイーププロットとDUT挙動の変化を確認する
電力センサの設定 ― 出力電力のレベリング (サーボ制御) 出力電力測定のための電力センサ構成方法について学びます。VSTの出力電力サーボと電力センサのサーボの違いを説明します。
  • 出力電力測定用に電力センサを構成する
  • VSTの出力電力サーボと電力センササーボの違いを確認する
システム補正パネルを構成する システム補正パネルの用途を説明し、高出力PAテストセットアップの構成を容易にする利用法につて学びます。

  • システム補正パネルの構成方法

デジタル歪み補正アルゴリズムを使用した線形化デジタル歪み補正線形化アルゴリズムを用いて検査対象デバイスを線形化するようRFICソフトウェアを構成する方法について学びます。 
  • デジタル歪み補正 (DPD) アルゴリズムを使用して線形化を行う
  • 反復学習制御 (ILC) DPDの探究
  • Xilinx (AMD) DPの探究
  • DPD係数の保存および再利用
MIPI RFFEによるデジタルDUT制御MIPI RFFEデジタルプロトコルを用いてRFフロントエンドモジュールを制御します。
  • テスト対象パワーアンプを手動で構成する 
  • スクリプトを呼び出してRFIC Test SoftwareからDUTを制御する
  • MIPI RFFEによるパワーアンプのダイナミックEVM測定
NI DMMを使用したPAE測定の実施PAE測定を構成し、使用する各種計測器の同期および制御方法について学びます。 

  • RFICソフトフロントパネルにおけるPAE測定の構成

相互相関によるEVM測定相互相関の概念を説明し、2台の別々のベクトル信号アナライザを使って最高品質のEVMを測定します。

  • EVM測定に相互相関を使用する 

RFICテスト自動化ウィザードを使用した測定自動化RFICテスト自動化ウィザードを使用してテストプログラムを生成します。
  • RFICテスト自動化ウィザードを起動して自動化コードを作成する
  • RFIC自動化ウィザードを使ってC#自動化コードを作成する 
  • RFICテスト自動化ウィザードを使用してTestStandテストシーケンスを作成する

 

メンバーシップにアップグレード

1年以内にNI講師主導のコースを3つ以上受講する予定の方であれば、トレーニングメンバーシップから、すべてのNIの一般教室およびオンライン形式のコースを手頃な料金で無制限に受けられるほか、無制限の認定資格証も受けられます。