ホーム 購入 NIのサービスプログラム 教育サービス カスタマートレーニングコース RF Test with STS コースの概要

RF Test with STS コースの概要

STSを使用したRFテストは、一般的な顧客のワークフローとマイルストーンに沿って進行し、標準のSTS RFハードウェアとの緊密な連携を含みます。このコースを修了すると、RFテスト開発者はSTS RFのリソースをインタラクティブに使用し、RF構成に基づいてテストプログラムを作成、変更、実行、デバッグできるようになります。本コースは、STSを使用したテストプログラム開発コースおよびSTSと.NET/C#を使用したテストコードモジュール開発コースで習得した基本的なSTSの知識を基盤としています。

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対応するフォーマット

 

オンデマンド

トレーニング形式について学ぶ

 

このコースではオンライン形式のトレーニングは利用できません

 

このコースでは教室形式のトレーニングは利用できません

 

このコースではプライベート形式のクラスは利用できません

コースの目標

  • STS RFサブシステムのコンポーネント、機能性、目的の理解

  • RF DUTに接続して連続性をテストする

  • Semiconductor Test Automation Framework (STAF) を使用してRF STSプロジェクトを作成する

  • InstrumentStudioおよびトレースビューアを使用してRF STSプロジェクトを監視およびデバッグする

  • テスト時間短縮 (TTR) 技術を使用してRFテストシステムの性能を向上させる

  • RF STSプログラムを本番用にリリースするためのベストプラクティスに従う

コースの詳細

受講期間

  • オンデマンド:4.5時間

受講対象者

  • 標準のRF NI半導体テストシステム (STS) を使用または評価し、RF ICのテストを開発および実行する半導体テスト開発者

受講条件

  • 半導体テストの計画と方法に関する一般的な知識

  • STSを使用したテストプログラム開発コース

  • STSと.NET/C#を使用したテストコードモジュール開発コース

コースで使用するNI製品

オンデマンドコースを受講する場合:

  • 半導体テストシステム (STS)

  • STSソフトウェアバンドル 25.0

トレーニング教材

  • オンデマンドトレーニングでは、NIラーニングセンターから配信されるデジタルコース教材を使用します。サブスクリプションの期間中はNIラーニングセンターにアクセスできます。

クレジットの値段

  • オンデマンド:ソフトウェアサブスクリプションおよびエンタープライズ契約、または5教育サービスクレジット、または2トレーニングクレジットを含む

RF Test with STS コース概要

レッスン概要トピック
RF STSハードウェアの概要STS RFサブシステムの構成要素とその機能を識別します。
  • RFサブシステムの概要

  • デバイスインタフェースボードへの接続

RF STSのキャリブレーション入門RF STSキャリブレーションの主要カテゴリを特定し、テストヘッドキャリブレーションの詳細手順を確認します。
  • RF STSキャリブレーションの概要
  • VSTセルフキャリブレーションの概要
  • 外部キャリブレーションの概要
  • システムキャリブレーションの概要

 

RF DUTの概要検査対象のRFデバイス (DUT) と、DUTとSTSの計測器間を接続するデバイスインタフェースボード (DIB) について確認します。
  • RF DUTの概要
  • DIBをSTSに接続する
  • テスト計画のレビュー
RF DUTをテスターに接続するDUTセットアップのドキュメントを使ってピンマップを作成し、テストおよび測定ソフトウェアがSTS内のDUTピンと計測器の接続を特定できるようにします。
  • テスト構成を設定する
  • ピンマップにおけるダミーピンの利用の概要
RF DUTの起動STS内の計測器を使ってDUTの電源を投入し、DUTピンの導通テストを行います。

  • デバイスへの電源投入

  • デジタル制御の概要
  • InstrumentStudioでのVSTの操作
DUTレベルのキャリブレーションワークフローとツールテスト測定の精度を確保するためにシステムキャリブレーションをDUTまで拡張します。

  • テストフィクスチャの特性評価

  • デエンベデッド処理の実施
  • キャリブレーション結果の検証
RF STSテストプログラム作成プロセスの確認Semiconductor Test Automation Frameworkの目的を説明し、新しいRF STSテストシーケンス作成の上位ワークフローについて学びます。

  • RF STSテストプログラム作成プロセスの確認

STAFのコンポーネントの概要STAFの各コンポーネントを識別し、RF STSテストプログラム作成における役割を説明します。

  • STAFを使ったSTS RFシーケンスの構築

  • STAFコードの確認
  • TestStandシーケンスの確認
  • テストプログラム構成用スプレッドシートの確認
新規RF ICテストシーケンスの作成STAFとTSRUのコンポーネントを使用して新しいRF STSテストシーケンスを作成します。

  • 新規RF ICテストシーケンスの作成

InstrumentStudioを使用したデバッグ基本的なSTSのデバッグ手法を復習し、InstrumentStudioを使ってRF計測器をデバッグする方法を確認します。
  • 基本的なSTSデバッグ手法のレビュー
  • InstrumentStudioを使用したRFテストのデバッグ
トレースビューアを使用したデバッグランタイムデータビューアの利用を復習し、トレースビューアを使ってRF STSテストプログラムをデバッグする方法について学びます。
  • ランタイムデータビューアの使用
  • トレースビューアの概要
RF STSテスト時間の短縮一般的なSTSのテスト時間短縮技術を見直し、RF STSテスト特有の技術を探ります。
  • テスト時間のベンチマークを行う
  • STS RFテストステップの最適化
RF STSテストプログラムの本番環境向けリリース本番環境向けにテストプログラムをリリースするためのタスクを実行します。
  • ゴールデンユニットの確立
  • オペレータインタフェースの使用

 

学習プランの継続

 

デジタルパターン計測器を使用したデバイステスト

 

NIオシロスコープを効果的に使用し、測定のニーズに適した計測器とプローブを選択する方法を学びます。

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TestStandを使用してテストを実行する技術者

 

テストアプリケーション用NIスイッチの制御


このコースでは、スイッチの概要とシステムでスイッチを設定するプロセスについて説明します。また、さらに詳細なトピック、システムメンテナンス、および一般的なトラブルシューティングの推奨事項についても説明します。

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NI PXIハードウェアの拡大図

 

SMUおよび電源のセットアップ、制御、最適化

 

「SMUと電源の設定/制御/最適化」コースにより、テストおよび検証を担当するエンジニアは、テストのニーズを満たす電圧および電流の供給と測定が可能になります。

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メンバーシップにアップグレード

1年以内にNI講師主導のコースを3つ以上受講する予定の方であれば、トレーニングメンバーシップから、すべてのNIの一般教室およびオンライン形式のコースを手頃な料金で無制限に受けられるほか、無制限の認定資格証も受けられます。