VCSEL I-Vテストサブシステム統合コースの概要

VCSEL I-Vテストサブシステムの概要

VCSEL I-Vテストサブシステムの高レベルな目的を説明し、大規模テストシステムへの統合に役立つリソースを見つけます。

• NI VCSEL I-Vテストサブシステムとは
• 追加の学習資料

VCSELハードウェアをテストシステムに統合する

VCSEL I-Vテストサブシステムを既存テストシステムの他ハードウェアコンポーネントと統合します。

• VCSEL I-Vテストサブシステムのハードウェアコンポーネントを確認する
• ハードウェア構成オプションを選択する
• ロードボードを設計する
• VCSEL I-Vテストサブシステムの使用を開始する
• ハードウェアのメンテナンス

VCSEL I-V Test Softwareの概要

VCSEL I-V Test Softwareの一部としてインストールされるソフトウェアコンポーネントの説明

• VCSEL I-V Test Softwareをインストールする
• LabVIEWの配送サンプルを調査する
• カスタマイズされたコードモジュールを作成する

補正データを生成する

LabVIEWのサンプルVIを使用して補正データを生成し、テスト実行中に正確なI-V測定を確保します。

• 補正データとは
• システム補正の実行
• パルス補正の実行

I-V測定の実行

VCSEL DUTにかかるパルス電圧 (V) とパルス電流 (I) を測定し、DUTの性能を特性化します。

• I-V測定の準備
• I-V測定の実行
• シリアル実行と並列実行のパフォーマンス比較

テスト結果の表示

NIサンプルファインダからアクセス可能なVCSEL Test Result Viewerサンプルプロジェクトを使用し、I-V測定のテスト結果の問題点を確認します。

• Test Result Viewerの使用タイミング
• テスト結果の表示

一般的な問題のトラブルシューティング

システム構成、システム操作、テストプログラム実行で発生する一般的な問題のデバッグとトラブルシューティングを行います。

• システム構成問題のトラブルシューティング
• システム操作問題のトラブルシューティング
• テストプログラム問題のトラブルシューティング