電子テスト計測器

NIオシロスコープおよびデジタイザは、自動テストおよび多チャンネルシステムで電気信号をキャプチャおよび解析するための精密モジュール式計測器です。オシロスコープは、デバッグや設計検証に最適な対話式のリアルタイム視覚化および測定を提供し、デジタイザは、完全にユーザがプログラム可能なFPGAによるソフトウェア制御により、高速/大容量メモリのデータ収集を実現し、高度な解析や長時間記録を可能にします。

NI波形発生器は、定義された形状、周波数、振幅を持つ電気信号を標準または任意波形として生成します。これらの信号は、設計、検証、または製造テストで電子回路を刺激してテストするために、シーケンスで生成したり、リアルタイムでストリームすることができます。

デジタルマルチメータは、電圧、電流、抵抗、温度、インダクタンス、キャパシタンス、周波数/周期の高精度測定や、ダイオードテストを実行します。一部のDMMには、波形の集録および解析用に絶縁デジタイザモードがあります。デジタルマルチメータは、検証から製造まで幅広いアプリケーションで使用されています。

NI PXIソースメジャーユニット（SMU）は高精度かつ高確度のDC計測器として、電圧および電流を供給し、これらを同時に測定することができます。SMUは、電気パラメータの精密な制御と測定が必要な電子機器およびコンポーネントの特性評価およびテストに広く使用されています。

NI LCRメータは、電子部品のインダクタンス（L）、キャパシタンス（C）、および抵抗（R）を測定します。検査対象デバイスにAC信号を印加し、応答を解析してこれらの値を求めます。LCRメータは、受動部品を評価し、設計仕様を満たすために不可欠です。

NIの電源は、正確でプログラマブルなDC電圧および電流を検査対象デバイス (DUT) に供給し、安全で反復可能な動作を保証します。ダイナミック電源供給、シーケンス、ソフトウェア定義制御などの高度な機能をサポートしています。自動化されたテストシステムに統合するための柔軟な構成により、エンジニアや技術者は実際の状態をシミュレーションし、設計を検証し、信頼性の高いデバイス性能を確保できます。

電子負荷デバイスは、検査対象デバイス (DUT) から電流を取り込み、電池、電源、燃料電池、太陽電池パネル、その他の電子機器の実際の性能をシミュレートします。これらのプログラム可能なテスト装置は、定電流、定電圧、定抵抗、定電力などのモードで動作し、さまざまなテストニーズに対応します。電子負荷は、パフォーマンスの検証や電気問題のトラブルシューティングに役立ち、自動テストシステムの一般的なコンポーネントです。

NIデジタルI/O製品は、TTL、CMOS、24 Vを含む複数の論理レベルでデジタル信号およびパターンの集録と生成が可能です。これにより、回路特性評価、デバイス制御、柔軟な自動化を実現します。NI DIOは、テスト、計測、産業制御、プロトタイピングで使用され、NIソフトウェアと連携して構成、自動化、高度なデータ解析を実現します。

NI周波数カウンタハードウェアは、周波数、周期、時間間隔、位相などの信号特性を測定します。

NI FlexRIO計測器は、ユーザがプログラミング可能なFPGAと高性能I/Oを組み合わせて、アプリケーション固有の計測器を作成します。エンジニアは、カスタムデジタル論理、タイミング、プロトコル処理をソフトウェアで実装し、PXIまたはPCIeシステムでの検証、エミュレーション、高スループットテストを高速化できます。

スイッチは、計測器と検査対象デバイス (DUT) 間で電気信号を経路設定するために使用されるハードウェアコンポーネントです。接続の自動化、計測範囲の拡大、手動での再配線なしでのスループット向上に不可欠であり、効率的でスケーラブルな自動テストシステムにとって重要です。