Measuring Wafer-​Level Reliability コース

Measuring Wafer-​Level Reliability コース​では、​Wafer Level Reliability Test​ソフトウェア​を​使用​し​て​半導体​ウェーハ​の​信頼​性​を​計測​する​ため​の​基礎​を​学び​ます。

Measuring Wafer-​Level Reliability コース​では、​ウェーハレベル​信頼​性 (WLR) テスト​と、​PXI​ソース​メジャー​ユニット (SMU) や​検査​対象​デバイス (DUT) など​の​ハードウェア​を​WLR Test Software​に​統合​する​方法​を​紹介​し​ます。​この​コース​は、​WLR Test Software​を​使用​し​て、​2​端子​および​4​端子​の​ストレス​テスト​と、​パ​ラメ​トリック​スイ​ー​プ​を​実行​し​て​の​半導体​ウェーハ​信頼​性​計測​を​理解​する​の​に​役​立ち​ます。​WLR​テスト​の​実行​と​SMU​チャンネル​を​DUT​に​マッピング​する​前​の​SMU​補正​に​精通​する​こと​が​でき​ます。​さらに、​この​コース​では、​時間​依存​ゲート​酸化​分解 (TDDB) および​バイアス​温度​不安定​性/​ホット​キャリア​注入 (BTI/​HCI) テスト​を​実行​する​方法​について​説明​し​ます。​また、​システム​構成、​システム​操作、​テスト​実行​で​発生​する​一般​的​な​問題​を​トラブル​シューティング​する​方法​も​学習​し​ます。​Measuring Wafer-​Level Reliability Course​は、​半導体​ウェーハ​の​信頼​性​を​テスト​する​ため​の​ターン​キー​ソフトウェア​ソリ​ュ​ー​ション​を​必要​と​する​テスト​エンジニア​に​お​勧め​し​ます。

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