Test Program Development with STS and LabVIEW コース

Test Program Development with STS and LabVIEW コースでは、検査対象デバイス (DUT) と通信するための半導体テストシステム (STS) の設定と使用の実践的な演習について説明します。このコースは、一般的な半導体テストのワークフローとマイルストーンに従います。ここでは、対応するハードウェアの詳細な操作も扱います。コースを修了すると、STSテスタリソースを対話形式で使用して、既存のコードモジュールでテストプログラムの作成、変更、実行、デバッグを行い、テストデータを収集してテスト時間レポートを生成できるようになります。

コース詳細:

Test Program Development with STS and LabVIEW コース概要

レッスン概要トピック
システムの概要NI半導体テストシステム(STS)を紹介します。
  • 概要
  • システムの概要
  • 安全要件と仕様
NI STS計測器を詳細に調べるSTS計測器とリソース、それらの仕様、機能、目的を紹介します。
  • テスタ計測器とリソースを認識する
  • システム仕様を詳細に調べる
  • STS計測器を特定する
  • STSのキャリブレーション
STSプロジェクトを作成するCreate STS Project Toolの使用方法について説明します。
  • Create STS Project Toolとは
  • 作成されたファイルを詳細に調べる
STSハードウェアをDUTピンへマッピングするピンマップを作成および変更する方法について説明します。
  • ピンマップとは
  • テスタ構成とロードボードの回路図を確認する
  • 測定要件をマッピングする
  • ピンマップを変更する
デジタルパターン計測器を詳細に調べるDigital Pattern Editorを使用してDUT制御とデジタルテストを実行する方法について説明します。
  • デジタルパターン計測器のアーキテクチャと機能を詳細に調べる
  • Digital Pattern Editorを使用する
DUTの動作を検証するデバイスをブリングアップする方法、テスタのリソースを対話式に制御する方法、簡単なテストを実装する方法について説明します。
  • デバイスインタフェースボードを使用してDUTとのインタフェースを行う
  • 導通のチェックと漏れ電流の測定
  • DUTブリングアップ
デジタルパターンの作成とバースト基本的なデジタルパターンを作成、ロード、およびバーストする方法を説明します。
  • ベクトルベースのパターンを学習する
  • DUTと通信するための基本的なデジタルパターンを作成する
  • デジタルパターンを変換する
STSソフトウェア開発環境を詳細に調べるテストシーケンスにステップを追加する方法、または事前に作成されたコードモジュールを呼び出す方法について説明します。
  • テストシーケンスファイルを詳細に調べる
  • テストシーケンスにステップを追加する
  • テストステップを作成する
  • ステップ設定を構成する
  • 構成ベースのテンプレートとカスタムコードモジュール
  • TestStandの実行を制御する
テストプログラムとステップを構成するテストステップテンプレートと、テスト制限の変更、ビニングの構成、テストプログラムの実行、および結果の報告の方法について説明します。
  • ステップテンプレートを使用する
  • テスト制限を設定する
  • テスト構成を作成する
  • ビニング
  • テスト開発環境でテストプログラムを実行する
  • テスト結果とレポートを理解する
デバッグデバイス、信号、およびテストシーケンスのデバッグ方法について説明します。
  • テストプログラムのデバッグ
  • シナリオをデバッグする
  • テスト時間のベンチマークを行う
  • デバッグにInstrumentStudioを使用する
  • デバッグにDigital Pattern Editorを使用する
STSオペレータインタフェースを使用するオペレータインタフェース(OI)でテストプログラムを実行し、ソケット時間を集録する方法について説明します。
  • OI機能を詳細に調べる
  • OIからステーションとロット設定を構成する
  • OIからテストシーケンスを実行する
  • OIインジケータ、フィールド、関数
  • テスト結果とレポートを確認する

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