SLSC用欠陥生成モジュール

SLSC用欠陥生成モジュールは、SLSCモジュールの切断された接続または割り込みされた接続をシミュレートするフィードスルーチャネルのセットを提供します。モジュールには、HIL (Hardware-In-the-Loop) テスト用のピン間の短絡、バッテリ電圧の短絡、グランドに対する短絡も含まれています。入力信号は、RTI (Rear Transition Interface) 上の欠陥バス、またはSLSCモジュールの前面にある2番目のコネクタを介して外部負荷、DUT (Devices Under Test)、およびモジュールのいずれかに接続できます。さらに、SLSC用欠陥生成モジュールは、適切なケーブル、端子台、およびRTIをサポートするPXIまたはCompactRIOモジュールとともに使用できます。