比類のないチャンネル密度
ラック全体を、単一のPXIシャーシに最大408個のSMUチャンネルを備えた数インチの物理スペースへと縮小することにより、テスト時間を短縮し、スループットを高め、今日の製造要件を満たします。
過渡応答特性のカスタマイズ
特許技術であるNI SourceAdaptによって、PXI SMUは過渡応答特性を左右するパラメータをデジタル制御できます。NI SourceAdaptを活用することで、PXI SMUと特定のデバイスを接続した際の過渡応答の安定性を最大に高める、オーバーシュートを抑制する、立ち上がり時間を短縮してテスト時間を削減するといったメリットを享受でき、カスタム回路が不要になります。
組込のIVスイープ
InstrumentStudioソフトウェアに含まれる構成ベースのIVスイープと、プログラミング環境でのより高度なカスタマイズへのパスにより、さまざまなテストケースで同じSMUを再構成および再利用できます。
ハードウェアタイミングシーケンス
ホストコンピュータとSMU間のデータのやり取りを、シーケンシャルに実行される各計測ステップの度に行うのではなく、一括して行うことで、データ通信の遅延を削減し、テストスループットを高速化できます。また、各ステップで、出力モード、アパーチャ時間、電流範囲、過渡応答特性など、さまざまなSMUパラメータを変更できます。
高電力パルス出力
一定値で電圧/電流出力を行う代わりに、短い時間幅のパルス出力を行うことで、より高電力領域での出力が可能となります。加えて、ヒートシンクなどの熱保護が不十分な場合でも、高い電力でテストできるようになります。
初めてのお客様への推奨事項
PXIソースメジャーユニットバンドル
PXIソースメジャーユニット (SMU) バンドルは、NIで最も人気のある高品質SMUの1つとThunderbolt™制御シャーシのあらかじめ構成されたセットで、簡単に始めることができます。
特集コンテンツ
PXI SMUで実現する並列性に優れたウェーハレベル信頼性テストシステム
半導体ウェーハの信頼性技術者の関心は、データの信頼性を高めつつ、テストコストの削減も図れるPXI SMUを用いたモジュール式の柔軟なソリューションに移行しています。
IMEC Research Instituteがプロジェクトサイクルを1/10に短縮
PXI SMUに基づくファブ内ATEにより、IMECはコストを75%削減し、ウェーハプロセスフローテストのプロジェクトサイクルを1か月からわずか3日間に短縮しました。
MiniLEDテストのスループット向上により次世代ディスプレイを実現
LEDチップの小型化に伴い、ウェーハあたりのチップ数は数千万個に上っています。FitTechはNIのPXI SMUを採用することでスループットの課題を解決しました。
技術
DC
このガイドでは、電源管理IC、RFパワーアンプといったICの計測確度と製品品質を向上させるためのベストプラクティスをご紹介します。SMUの動作理論、外部ノイズの最小化、パルスの影響などのトピックが詳しく記載されています。
- ソースメジャーユニットの動作理論
- 計測確度
- 確度と速度のトレードオフ
- パルスの影響