ラック全体を、単一のPXIシャーシに最大408個のSMUチャンネルを備えた数インチの物理スペースへと縮小することにより、テスト時間を短縮し、スループットを高め、今日の製造要件を満たします。
特許技術であるNI SourceAdaptによって、PXI SMUは過渡応答特性を左右するパラメータをデジタル制御できます。NI SourceAdaptを活用することで、PXI SMUと特定のデバイスを接続した際の過渡応答の安定性を最大に高める、オーバーシュートを抑制する、立ち上がり時間を短縮してテスト時間を削減するといったメリットを享受でき、カスタム回路が不要になります。
一定値で電圧/電流出力を行う代わりに、短い時間幅のパルス出力を行うことで、より高電力領域での出力が可能となります。加えて、ヒートシンクなどの熱保護が不十分な場合でも、高い電力でテストできるようになります。
技術資料
DC計測のパフォーマンスを最大化する
このガイドでは、電源管理IC、RFパワーアンプといったICの計測確度と製品品質を向上させるための最善策を学ぶことができます。SMUの動作理論、外部ノイズの最小化、パルスの影響などのトピックが詳しく記載されています。