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PXIデジタルパターン計測器とは

PXIデジタルパターン計測器は、半導体ATEと同等のデジタルテスト開発機能を、業界標準のテスト・計測プラットフォームであるPXIプラットフォームに提供します。RFフロントエンドや電源管理集積回路（PMIC）から、無線通信機能とセンシング機能を搭載したIoT向けシステムオンチップ（SoC）やトランシーバにいたるまで、広範なRFICおよびミックスドシグナルICの試験用に設計されています。

Digital Pattern Editor

Digital Pattern Editor​は、​テストパターン​の​イン​ポート​や​編集、​作成​が​できる​対話​式​ツール​です。​デバイス​の​ピン​マップ、​仕様​および​パターン​を​編集​する​ため​の​各​画面​を​統合​した​ソフトウェア​で、​デジタル​テスト​ベクトル​や​テストパターン​の​作成、​イン​ポート、​編集​を​サポート​し​ます。

Tools to Debug Digital Test Patterns

The Digital Pattern Editor includes tools like Schmoo plots to provide a deeper understanding of device-under-test (DUT) performance across variation. The editor also offers debugging tools such as overlaying pattern failures on a pattern or using digital scope for an analog view of the pin data.

プログラミングによるパターンのバースト実行

LabVIEW、​C、​または.NET​など​の​開発​ツール​で​NI-​Digital Pattern Driver​を使用すれば、​テスト​コード​を​開発​し​て​PXI​デジタル​パターン​計測​器​を​操作​する​こと​が​でき​ます。

TestStand Semiconductor Module

TestStand Semiconductor Module​は、​Digital Pattern Editor​および​NI-​Digital Pattern Driver​と​連携​し​て​動作​し、​STS​の​ピン​マップ​を​サポート​し​て​DUT​を​中心​に​据​え​た​マルチ​サイト​プログラミング​による​開発​が​可能​です。

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