NI presenta il nuovo PXI SMU per il test di semiconduttori con numero di canali 6 volte superiore rispetto alle versioni precedenti

New PXIe-4163 high density SMU provides six times more DC channel density than previous NI PXI SMUs.

COMUNICATO STAMPA – Febbraio 2018 – NI, il fornitore di sistemi basati su piattaforma che permette a ingegneri e tecnici di risolvere le più grandi sfide ingegneristiche del mondo, ha annunciato il nuovo PXIe-4163 SMU (Source Measure Unit) con numero di canali sei volte superiore rispetto ai PXI SMU di precedente generazione per il test RF, MEMS, a segnali misti e di altri componenti a semiconduttore analogici. 

"Tecnologie in continua evoluzione come il 5G, l'IoT (Internet of Things) e veicoli autonomi presentano nuove sfide per i produttori di semiconduttori che necessitano di adottare approcci più efficienti per il test di semiconduttori, dal laboratorio alla produzione", ha affermato Eric Starkloff, NI Executive Vice President, Global Sales and Marketing. "Il test di semiconduttori è un settore strategico per NI. Stiamo espandendo le potenzialità delle nostre piattaforme software e PXI grazie al nuovo PXI SMU che permetterà ai produttori di chip di affrontare le nuove sfide della progettazione".

I produttori di chip hanno progressivamente adottato STS (Semiconductor Test System) per i vantaggi offerti dalle prestazioni, dalle dimensioni compatte e per ridurre notevolmente i costi di produzione. Il nuovo PXIe-4163 SMU estende ulteriormente queste funzionalità con un elevato numero di canali DC offrendo un parallelismo superiore per applicazioni multisite e misure di qualità ad elevata accuratezza in un fattore di forma production-ready. Utilizzando in combinazione STS e il nuovo PXI SMU, gli ingegneri che lavorano in produzione avranno accesso alla stessa piattaforma utilizzata in validazione, riducendo la complessità della correlazione dei valori misurati e anche il time-to-market.

È possibile utilizzare PXIe-4163 SMU in configurazioni STS o come sistemi PXI STS stand-alone. PXIe-4163 offre:

    •  Fino a 24 canali in un singolo slot PXI Express
    • +/- 24 V per canale
    • Fino a 100 mA source/sink per canale
    • Sensibilità di corrente 100 pA
    • Fino a 100 kS/s di velocità di campionamento e di aggiornamento
    • Tecnologia SourceAdapt per la riduzione delle oscillazioni e overshoot
    • Software di configurazione e debug interattivo
    • Fino a 408 canali SMU ad alta precisione in un singolo chassis PXI (4U di spazio rack)
    • Supporto completo in STS, incluso cablaggio a livello di sistema, calibrazione e supporto mappatura pin


Introdotto nel 2014, STS offre un approccio notevolmente innovativo per il test di produzione di semiconduttori. STS si basa sulla piattaforma PXI per lo sviluppo di sistemi di test più intelligenti. La piattaforma VST prevede VST da 1 GHz, SMU di classe fA, software avanzato COTS per la gestione del test TestStand e oltre 600 prodotti PXI da DC a mmWave.


Per saperne di più su STS consultare www.ni.com/sts/

NI Semiconductor Test System (STS)

Introdotto nel 2014, STS offre un approccio notevolmente innovativo per il test di produzione di semiconduttori. Il nuovo PXIe-4163 SMU estende le funzionalità di STS e può essere utilizzato in configurazioni STS o come sistemi PXI STS stand-alone.

 

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