Présentation du cours Intégration du sous-système de test VCSEL I-V

Le sous-système de test VCSEL IV fournit une solution personnalisable pour tester les dispositifs laser à cavité verticale émettant par la surface (VCSEL). Dans ce cours, les étudiants apprendront à intégrer le sous-système de test VCSEL I-V dans leurs systèmes de test existants et à effectuer des tests de base pour garantir une connectivité appropriée.

Formats disponibles

 

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Cours privés non disponibles pour ce cours

Objectifs du cours

Informations détaillées sur le cours

Durée

Public

Prérequis

Produits NI utilisés

Ressources pédagogiques

Coût en crédits

Descriptif du cours Intégration du sous-système de test VCSEL I-V

LeçonPrésentationThèmes

Introduction au sous-système de test VCSEL I-V

Décrire l’objectif général du sous-système de test VCSEL I-V et localiser les ressources disponibles pour faciliter l’intégration dans un système de test plus large.

  • Qu’est-ce que le sous-système de test NI VCSEL I-V ?
  • Matériel pédagogique supplémentaire

Intégration du matériel VCSEL dans un système de test

Intégrez le sous-système de test VCSEL I-V avec les autres composants matériels d’un système de test existant.

  • Exploration des composants matériels d’un sous-système de test VCSEL I-V
  • Choisir une option de configuration matérielle
  • Conception de votre carte d’interface
  • Initiation à l’utilisation du sous-système de test VCSEL I-V
  • Maintenance de votre matériel

Exploration du VCSEL I-V Test Software

Décrire les composants logiciels installés dans le cadre du VCSEL I-V Test Software.

  • Installation du VCSEL I-V Test Software
  • Exploration des exemples fournis avec LabVIEW
  • Création de modules de code personnalisés

Génération de données de compensation

Utilisez des VIs d’exemple dans LabVIEW pour générer des données de compensation, ce qui garantit des mesures I-V précises pendant l’exécution du test.

  • En quoi consistent les données de compensation ?
  • Effectuer la compensation du système
  • Effectuer la compensation d’impulsion

Effectuer des mesures I-V

Mesurez la tension d’impulsion (V) et le courant d’impulsion (I) aux bornes d’un DUT VCSEL afin de pouvoir caractériser les performances du DUT.

  • Préparation à la prise de mesures I-V
  • Effectuer des mesures I-V
  • Comparaison des performances de l’exécution en série et parallèle

Affichage des résultats du test

Utilisez l’exemple de projet VCSEL Test Result Viewer, accessible depuis l’Outil de recherche d’exemples NI, pour explorer tout problème dans les résultats de test de votre mesure I-V.

  • Quand utiliser l’Afficheur de résultats de test
  • Affichage des résultats du test

Résolution des problèmes courants

Mettre au point et résoudre les problèmes courants liés à la configuration système, au fonctionnement du système et à l’exécution du programme de test.

  • Résolution des problèmes de configuration système
  • Résolution des problèmes de fonctionnement du système
  • Résolution des problèmes du programme de test

 

Mise à niveau vers l’adhésion

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