Toolkit de l’analyseur de données de test des convertisseurs A/N

Project Integration, LLC

Le Toolkit de l’analyseur de données de test des convertisseurs A/N vous aide à analyser les signaux de test de sortie des convertisseurs A/N (C A/N).

Le Toolkit de l’analyseur de données de test des convertisseurs A/N est un complément logiciel pour LabVIEW. Avec ce complément logiciel, vous pouvez développer des logiciels de systèmes de test et de caractérisation C A/N automatisés à utiliser dans les systèmes d'équipement de test automatique (ATE) à des fins de R&D et de test en production. Ce complément logiciel vous aide à analyser les paramètres DC, paramétriques, statiques, dynamiques et de cadencement d'un C A/N. Le Toolkit TDA offre une prise en charge multisite du système de test de semi-conducteurs (STS) et une compatibilité avec la norme IEEE Std 1241™-2010.