Réduisez les temps d’essai, augmentez le débit et répondez aux exigences actuelles des fabricants en réduisant un rack complet à un encombrement de quelques centimètres carrés, avec jusqu’à 408 voies de SMU dans un seul châssis PXI.
Contrôlez numériquement les propriétés transitoires des SMU PXI afin de maximiser la stabilité, réduire le dépassement et accélérer les tests avec NI SourceAdapt, une technologie brevetée sur les SMU PXI vous permettant d’éviter les circuits personnalisés.
Obtenez des résultats plus rapidement en supprimant la latence dans les communications entre l’ordinateur hôte et la SMU au cours de chaque mesure d’une séquence. À chaque étape, modifiez divers paramètres de la SMU, notamment le mode de sortie, le temps d’ouverture, la gamme de courant et la réponse transitoire.
Dépassez les limites de l’alimentation en CC de base des SMU PXI en envoyant des impulsions de courant ou de tension au lieu d’une source CC constante. Les impulsions vous permettent d’effectuer vos tests à une puissance instantanée très élevée avec une infrastructure de dissipateur thermique limitée ou inexistante.
White Paper technique
Maximiser les performances de vos mesures de CC
Avec ce guide, découvrez comment améliorer la précision des mesures et la qualité du produit, pour les circuits intégrés de gestion de l’alimentation, les amplificateurs de puissance RF et d’autres circuits intégrés. Explorez des sujets tels que le principe de fonctionnement des SMU, la réduction des bruits externes et les effets des impulsions.
Trouvez les fichiers de téléchargement et les drivers d’instruments supportés pour chaque produit.
Parcourez un large éventail de ressources d’aide, notamment des exemples et des informations de dépannage.