Accueil Produits Test électronique et instrumentation Unités de source et mesure En quoi consistent les unités de source et mesure PXI ?

En quoi consistent les unités de source et mesure PXI ?

Les unités de source et mesure PXI (SMU) combinent des capacités de source et mesure haute précision avec des fonctionnalités conçues pour réduire la durée des tests et augmenter la flexibilité.

Densité de voies incomparable

Réduisez les temps d’essai, augmentez le débit et répondez aux exigences actuelles des fabricants en réduisant un rack complet à quelques pouces d’espace physique avec jusqu’à 408 voies SMU dans un seul châssis PXI.

Réponse personnalisée des transitoires

Contrôlez numériquement les propriétés transitoires des SMU PXI afin de maximiser la stabilité, réduire le dépassement et accélérer les tests avec NI SourceAdapt, une technologie brevetée sur les SMU PXI vous permettant d’éviter les circuits personnalisés.

Balayage IV intégré

Reconfigurez et réutilisez la même SMU dans tous les tests avec des balayages IV basés sur la configuration dans le logiciel InstrumentStudio et une voie vers une personnalisation des environnements de programmation plus avancée.

Séquences cadencées par matériel

Obtenez des résultats plus rapidement en supprimant la latence dans les communications entre l’ordinateur hôte et la SMU et donc entre chaque mesure d’une séquence. À chaque étape, ces séquences modifient également divers paramètres de la SMU, notamment le mode de sortie, le temps d’ouverture, la gamme de courant et la réponse transitoire.

Envoi d’impulsions haute puissance

Exécution au-delà de l’alimentation en CC de base des SMU PXI en envoyant des impulsions de courant ou de tension au lieu d’une source CC constante. Les impulsions vous permettent d’effectuer vos tests avec une puissance instantanée très élevée et une infrastructure limitée ou sans dissipateur de chaleur.

Contenus associés

Les ingénieurs en charge de la fiabilité se tournent vers des solutions modulaires souples basées sur des SMU au format PXI pouvant s’adapter pour améliorer la fiabilité des données, tout en réduisant le coût des tests.

Avec un ATE in-fab basé sur des SMU PXI, IMEC a réduit les coûts de 75% et diminué le cycle de projet pour les tests de flux de processus de wafer d’un mois à juste trois jours.

En utilisant des SMU PXI dans un testeur multi-sites, Shining Technologies a pu tester 5x plus de LED par seconde en production en comparaison avec un testeur de LED traditionnel.

White Paper technique

Maximiser les performances de vos mesures de CC

Avec ce guide, découvrez comment améliorer la précision des mesures et la qualité du produit, concernant des circuits intégrés de gestion de l’alimentation, des amplificateurs de puissance RF et d’autres circuits intégrés. Explorez des sujets tels que la théorie des opérations SMU, la réduction des bruits extérieurs et les effets des impulsions.

 

  • Théorie d’opération d’une unité de source et mesure
  • Précision des mesures
  • Compromis entre précision et vitesse
  • Les effets des impulsions

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