Accueil Produits Test électronique et instrumentation Unités de source et mesure En quoi consistent les unités de source et mesure PXI ?

En quoi consistent les unités de source et mesure PXI ?

Les unités de source et mesure (SMU) PXI combinent des capacités de source et de mesure haute précision avec des fonctionnalités conçues pour réduire la durée des tests et augmenter la flexibilité.

Densité de voies incomparable

Réduisez les temps d’essai, augmentez le débit et répondez aux exigences actuelles des fabricants en réduisant un rack complet à un encombrement de quelques centimètres carrés, avec jusqu’à 408 voies de SMU dans un seul châssis PXI.

Réponse personnalisée des transitoires

Contrôlez numériquement les propriétés transitoires des SMU PXI afin de maximiser la stabilité, réduire le dépassement et accélérer les tests avec NI SourceAdapt, une technologie brevetée sur les SMU PXI vous permettant d’éviter les circuits personnalisés.

Balayage IV intégré

Reconfigurez et réutilisez la même SMU dans tous les tests avec des balayages IV basés sur la configuration dans le logiciel InstrumentStudio et un accès à une personnalisation plus avancée des environnements de programmation.

Séquences cadencées par matériel

Obtenez des résultats plus rapidement en supprimant la latence dans les communications entre l’ordinateur hôte et la SMU au cours de chaque mesure d’une séquence. À chaque étape, modifiez divers paramètres de la SMU, notamment le mode de sortie, le temps d’ouverture, la gamme de courant et la réponse transitoire.

Envoi d’impulsions haute puissance

Dépassez les limites de l’alimentation en CC de base des SMU PXI en envoyant des impulsions de courant ou de tension au lieu d’une source CC constante. Les impulsions vous permettent d’effectuer vos tests à une puissance instantanée très élevée avec une infrastructure de dissipateur thermique limitée ou inexistante.

Contenu recommandé

Les ingénieurs en charge de la fiabilité se tournent vers des solutions modulaires souples basées sur des SMU au format PXI pouvant s’adapter pour améliorer la fiabilité des données, tout en réduisant le coût des tests.

Avec des équipements de test automatisé en production basés sur des SMU PXI, l’IMEC a réduit ses coûts de 75 % et le cycle de projet pour les tests de flux de processus de wafer est passé d’un mois à trois jours seulement.

La taille des puces LED étant de plus en plus réduite, le nombre de puces par wafer est passé à des dizaines de millions. La SMU PXI de NI a permis à FitTech de résoudre son problème de débit.

White Paper technique

Maximiser les performances de vos mesures de CC

Avec ce guide, découvrez comment améliorer la précision des mesures et la qualité du produit, pour les circuits intégrés de gestion de l’alimentation, les amplificateurs de puissance RF et d’autres circuits intégrés. Explorez des sujets tels que le principe de fonctionnement des SMU, la réduction des bruits externes et les effets des impulsions.

 

  • Principe de fonctionnement d’une unité de source et mesure
  • Précision des mesures
  • Compromis entre précision et vitesse
  • Les effets des impulsions

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