Le cours sur les tests de périphériques avec des instruments de patterns numériques permet aux ingénieurs de test et de validation d’effectuer des tests en production et de caractérisation de périphériques à semi-conducteurs avec des instruments de patterns numériques. Ce cours se concentrera sur la façon dont les instruments de patterns numériques et l’éditeur de patterns numériques peuvent être utilisés pour effectuer des tests de périphériques courants, en mettant l’accent sur la communication DUT, les tests d’interface numérique et les tests de continuité et de fuite. Ce cours vous guidera tout au long du flux de travail de test complet, de l’étalonnage et de la mise au point à l’extension des tests à un séquenceur de test.
À la demande, 4 heures
Les ingénieurs de test effectuant des tests en production et de caractérisation des périphériques à semi-conducteurs.
Aucun
Instruments de patterns numériques NI PXIe et
éditeur de pattern numérique NI.
Créer et éditer tous les éléments nécessaires à l’envoi en rafale d’un pattern numérique sur votre DUT, y compris les tableaux associatifs de broches, les feuilles de niveau, les feuilles de temps et les fichiers de patterns ;
Tester les modes de fonctionnement du DUT via les commandes SPI ;
Valider la communication DUT via un test de relecture de registre ;
Valider le cadencement du DUT en l’interfaçant avec des équipements de test externes ;
Valider les connexions de broches du DUT par des tests de continuité et de fuite ;
Utiliser des codes opération pour établir le contrôle de flux dans les modèles ;
Utiliser la source et capturer les waveforms pour simplifier la structure des modèles et stocker les données ;
Synchroniser votre instrument de patterns numériques avec d’autres instruments de vos systèmes ;
Utiliser History RAM Report, les tracés Shmoo et l’oscilloscope numérique pour effectuer des activités de mise au point.
Calibrer vos instruments et corriger tout décalage de câble.
Leçon | Présentation | Thèmes |
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Créer votre premier modèle et l’envoyer en rafale | Configurer une carte de brochage, une feuille de niveau, une feuille de temps et un fichier de modèles, en envoyant un pattern numérique en rafale vers le périphérique sous test (DUT). |
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Créer des cartes de brochage | Création de cartes de brochage dans l’éditeur de pattern numérique pour définir les sites de connexion DUT. |
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Création de fiches techniques | Stockage des valeurs de la fiche technique du DUT dans les variables de la fiche de spécifications. |
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Création de feuilles de niveaux de brochage | Création de feuilles de niveaux de brochage pour définir les tensions d’alimentation, la terminaison et les niveaux logiques du DUT. |
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Création de feuilles de temps | Création de feuilles de temps pour définir les caractéristiques de cadencement de l’interface avec le DUT. |
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Création de fichiers de modèles | Création de fichiers de modèles pour communiquer et tester le DUT. |
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Programmation de patterns numériques dans LabVIEW | Contrôler par programmation les instruments de patterns numériques via l’API NI-Digital Pattern. |
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Tester les modes de fonctionnement du DUT | Configuration du DUT via des commandes SPI (Serial Peripheral Interface) pour tester ses modes de fonctionnement. |
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Exécution de tests de relecture de registre | Exécution d’un test de relecture de registre pour valider les capacités de communication du DUT. |
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Valider le cadencement du DUT | Interfacer avec des équipements de test externes pour valider le cadencement du DUT. |
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Exécuter des tests de continuité et de fuite | Exécution de tests de continuité et de fuite pour valider la connexion des broches du DUT. |
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Accroître la robustesse du modèle via le contrôle du flux
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Accroître la robustesse d’un modèle en utilisant des codes opération pour établir un contrôle de flux.
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Utilisation des Waveforms sources
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Utilisation de waveforms sources en série et en parallèle pour simplifier la structure du modèle via des données variables.
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Utilisation de waveforms de capture
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Utilisation de waveforms de capture pour stocker les données reçues de validation et de post-traitement.
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Analyse des résultats des tests via History RAM Report
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Utilisation de History RAM Report pour mettre au point le modèle ou le périphérique sous test (DUT).
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Affichage de signaux via un oscilloscope numérique
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Utilisation de l’oscilloscope numérique pour afficher les niveaux de tension réels au niveau des broches de l’instrument de pattern numérique (PXIe-657x).
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Utilisation de tracés Shmoo pour visualiser les relations entre les paramètres
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Utilisation de tracés Shmoo pour itérer à travers les paramètres de modèle et afficher les résultats.
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Synchronisation avec d’autres instruments
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Implémentation de stratégies de synchronisation telles que le partage de déclenchements ou l’utilisation de NI-TClk pour coordonner les tâches via d’autres instruments.
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Câblage et étalonnage
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Compensation des décalages de câble et de tension, et exploration des exigences d’étalonnage du périphérique.
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Utilisation des codes opération lors des tests d’analyse
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Utilisation de codes opération d’analyse pour diviser un vecteur en un ou plusieurs cycles d’analyse.
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