En quoi consiste le système de test de semi-conducteurs (STS) ?

Le STS est un équipement de test automatique prêt à l'emploi pour les matériels semi-conducteurs RF, mixtes et MEMS qui permet d'accélérer la mise sur le marché et de réduire le coût des tests.

Une alternative plus intelligente pour le test en production de semi-conducteurs

Optimized for throughput and cost, STS is a production-ready ATE solution for RF, mixed-signal, and MEMS semiconductor devices. STS is ready for the production test cell, with support for manipulators, handlers, and wafer probers, and a standard spring pin layout enables highly transferable test programs and load boards. STS features a unified set of software tools for quickly and efficiently developing, debugging, and deploying test programs. To complete the solution, NI offers comprehensive engineering services, bring-up services, training, and support.

Avantages principaux

  • Portefeuille complet d'instruments RF, numériques et à courant continu - Vous pouvez personnaliser les nouvelles configurations STS et mettre à niveau les testeurs existants afin d'inclure les ressources d'instrumentation dont vous avez besoin tout en maintenant la transférabilité du programme de test et de la carte de charge. 

  • Une expérience logicielle unifiée — Le logiciel STS fournit les outils nécessaires pour le développement, la mise au point et le déploiement de programmes de test multisites, notamment la représentation du brochage, l'import/export de limites de test, la création d’intervalles et la création de rapports en STDF.

  • Code de test préconstruit — Vous pouvez utiliser des modèles logiciels de type glisser-déposer pour les opérations de test de semi-conducteurs telles que la vérification de la continuité, les tests de fuite, l'envoi en rafale de patterns numériques ou la génération et l'acquisition de signaux RF pour les dernières normes sans fil, comme 5G NR.
  • Intégration en cellule de test — L'infrastructure standard d'ancrage et d'interfaçage permet une intégration transparente des manipulateurs, handlers de matériel pour le test final et des sondes de wafer pour le test de wafer.

  • Étalonnage du système - Vous pouvez effectuer un étalonnage sur site au niveau du système des ressources CC et numériques jusque sur l’interface de broches de test et les ressources RF jusque sur les connecteurs à raccordement aveugle, avec des options permettant de consommer des fichiers de désintégration de vecteurs pour un étalonnage jusque sur un plan DUT.

  • Services et support — Les services complets d'ingénierie, les services d’initialisation, les formations et le support technique vous aideront mettre rapidement votre système en place.

Quelle est la solution idéale pour vous ?

RF Front Ends and Transceivers

Les fabricants de puces sans fil savent que les pressions liées aux délais de mise sur le marché et à la cadence des tests en production sont des éléments à prendre en compte lors de l’évaluation des solutions de test. Pour ce qui est des frontaux RF, y compris les amplificateurs de puissance (PA), les amplificateurs à faible bruit (LNA), les commutateurs RF, les filtres RF et les modules frontaux RF intégrés (FEM), le STS offre des avantages importants en matière de temps de test et de débit par rapport aux solutions ATE proposées par la concurrence. La forte implication de NI dans les organismes de normalisation et les applications de laboratoire se traduit par une solide expérience et des solutions convaincantes en matière de normes sans fil récentes, telles que la 5G NR et le Wi-Fi 6. NI propose une instrumentation IP significative et de pointe avec une bande passante inégalée qui .peut vous aider à accélérer le délai de mise sur le marché.

Principales fonctionnalités

 

  • Solutions intégrées pour les normes sans fil RF et les ondes millimétriques
  • 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes
  • Prise en charge des normes sans fil, dont les normes GSM, TD SCDMA, WCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR, et 802.11a/b/g/n/ac/ax
  • Jusqu'à 48 ports RF bidirectionnels et 72 ports à ondes millimétriques bidirectionnels
  • Bibliothèque de communication SPI, MIPI et numérique personnalisée pour les modules frontaux (FEM)
  • RF haute puissance en option - jusqu'à +40 dBm
  • Mesures d'harmoniques en option - jusqu'à 18 GHz
  • Mesures de facteur de bruit en option - avec facteur Y et source froide

« Certaines de nos autres unités commerciales ont déjà adopté le STS, et quelques-unes de leurs recommandations ont d’abord convaincu notre unité commerciale RF de l’essayer pour cette application MIMO massive. Je suis très satisfait des progrès, il va de soi que dans la fabrication, le débit est primordial. Un débit supérieur signifie plus de périphériques expédiés à nos clients plus rapidement, et fondamentalement des résultats commerciaux  »

David Reed, Executive Vice President de Global Operations, NXP

IoT Microcontroller Devices

Les fabricants de puces à base de semi-conducteurs savent que l’émergence de l’Internet des objets (IoT) a eu pour effet une augmentation de la diversité et du volume des périphériques semi-conducteurs à microcontrôleurs IoT avec un prix optimisé qui est parfois difficilement gérable via les solutions ATE traditionnelles. En ce qui concerne les périphériques IoT basées sur microcontrôleurs et dont les normes de communication sont Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi et ZigBee, le STS fournit une plate-forme de test en production flexible et évolutive permettant d’augmenter ou de réduire les volumes pour s’adapter aux budgets serrés.

Principales fonctionnalités

 

  • 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes 
  • Support des normes de connectivité sans fil, dont les normes Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi, et ZigBee 
  • Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option 
  • Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option

« Lorsque NI a lancé le STS, la question de ce choix ne se posait pas. Qu’est-ce qui nous en empêchait ? Ce système permettait de coupler PXI avec un ATE, et c’était exactement ce dont nous avions besoin . . . . Nous avons pu économiser 60 000 dollars par mois et obtenir un retour sur investissement complet en moins de deux ans. Nous avons augmenté notre couverture de test et amélioré notre qualité. De plus, en raison de la longévité de la plate-forme PXI et de la stabilité de NI, nous sommes convaincus d’investir dans une plate-forme qui sera disponible pendant de nombreuses années à venir. »

Warren Latter, Staff Test Engineer, ON Semiconductor

Mixed-Signal and MEMS Devices

Les fabricants de puces à semi-conducteurs savent que les tests de périphériques typiques et ésotériques sur divers portefeuilles de signaux mixtes aboutissent souvent à une large gamme d’exigences de test. Quant aux périphériques à signaux mixtes, tels que les convertisseurs de données, les périphériques linéaires, les interfaces de communication, la synchronisation et le cadencement, les capteurs et les périphériques MEMS, le STS fournit une plate-forme de test en production flexible qui est une option rentable pour migrer à partir de plates-formes de testeurs anciennes ou pour décharger la capacité des plates-formes ATE coûteuses.

Principales fonctionnalités

 

  • Options d'instrumentation communes pour le test de dispositifs à signaux mixtes et MEMS, y compris numérique, VI à 4 quadrants (unités de mesure de la source) et génération et capture de signaux haute fréquence
  • Logiciel interactif qui facilite le développement de programmes de test, accélère l’initialisation du testeur, et simplifie la mise au point
  • Bibliothèque complète de mesure qui fournit un point de départ de plus haut niveau pour le développement de programmes de test
  • Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option
  • Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option

« En fin de compte, nous avons constaté que le STS était 30 % plus rapide, répondait à tous nos critères de réussite et était moins cher à l'achat que la location d'un ATE traditionnel. »

John Cooke, Product Test Engineer, Cirrus Logic

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Services


Services et support pour le STS

NI propose une vaste gamme de services et de programmes spécialisés en ingénierie et matériel conçus pour répondre aux besoins critiques en matière de disponibilité des applications de test de semi-conducteurs tout en vous aidant à maximiser l'efficacité, à optimiser les performances des testeurs et à atteindre la longévité. À chaque déploiement du STS, NI s’associe à vous pour déterminer le niveau de service adapté aux besoins de votre application et assurer votre succès à long terme.