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Une alternative plus intelligente pour le test de production de semi-conducteurs
Profitant d'un débit et de coûts optimisés, le STS est un équipement de test automatique prêt à l'emploi pour les matériels semi-conducteurs RF, mixtes et MEMS. Le STS est adapté aux cellules de test avec la prise en charge des manipulateurs, handlers et sondes de wafer, et avec une disposition de broches à ressort standard pour des cartes d'interface et des programmes de test aisément transférables. Le STS est doté d'un ensemble unifié d’outils logiciels permettant d'accélérer et d’optimiser le processus de développement, de mise au point et de déploiement des programmes de test. Pour compléter sa solution, NI propose des services complets d'ingénierie, de bring-up, de formations et de support.
Avantages principaux
- Portefeuille complet d'instruments RF, numériques et à courant continu - Vous pouvez personnaliser les nouvelles configurations STS et mettre à niveau les testeurs existants afin d'inclure les ressources d'instrumentation dont vous avez besoin tout en maintenant la transférabilité du programme de test et de la carte de charge.
- Une expérience logicielle unifiée — Le logiciel STS fournit les outils nécessaires pour le développement, la mise au point et le déploiement de programmes de test multisites, notamment le mappage du brochage, l'import/export de limites de test, le binning et la création de rapports en STDF.
- Code de test préconstruit — Vous pouvez utiliser des modèles logiciels de type glisser-déposer pour les opérations de test de semi-conducteurs telles que la vérification de la continuité, les tests de fuite, l'envoi en rafale de patterns numériques ou la génération et l'acquisition de signaux RF pour les dernières normes sans fil, comme 5G NR.
- Intégration en cellule de test — L'infrastructure standard d'ancrage et d'interfaçage permet une intégration transparente des manipulateurs, handlers de matériel pour le test final et des sondes de wafer pour le test de wafer.
- Étalonnage du système - Vous pouvez effectuer un étalonnage sur site au niveau du système des ressources DC et numériques jusque sur l’interface de broches de test et les ressources RF jusque sur les connecteurs à raccordement aveugle, avec des options permettant de consommer des fichiers de déintégration de vecteurs pour un étalonnage jusque sur un plan DUT.
- Services et support — Les services complets d'ingénierie, les services de bring-up, les formations et le support technique vous aideront mettre rapidement votre système en place.
Quelle est la solution faite pour vous ?
Émetteurs-récepteurs et frontaux RF
Les fabricants de puces sans fil savent que les pressions liées à la mise sur le marché et le débit des tests de production sont des considérations essentielles lors de l’évaluation des solutions de test. Pour les frontaux RF, y compris les amplificateurs de puissance (PA), les amplificateurs à faible bruit (LNA), les commutateurs RF, les filtres RF et les modules frontaux RF (FEM) intégrés, STS offre des avantages considérables en termes de temps de test et de débit par rapport aux solutions ATE concurrentes. La forte implication de NI dans les organismes de normalisation et les applications de laboratoire se traduit par une solide expérience et des solutions convaincantes pour les normes sans fil les plus récentes, telles que 5G NR et Wi-Fi 6. NI offre une IP importante et des instruments de pointe dotés d'une bande passante inégalée dans le secteur qui peuvent vous aider accélérez votre mise sur le marché.
Principales fonctionnalités
- Solutions intégrées pour les normes sans fil RF et les ondes millimétriques
- 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes
- Prise en charge des normes sans fil, dont les normes GSM, TD SCDMA, WCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR, et 802.11a/b/g/n/ac/ax
- Jusqu'à 48 ports RF bidirectionnels et 72 ports à ondes millimétriques bidirectionnels
- Bibliothèque de communication SPI, MIPI et numérique personnalisée pour les modules frontaux (FEM)
- RF haute puissance en option - jusqu'à +40 dBm
- Mesures d'harmoniques en option - jusqu'à 18 GHz
- Mesures de facteur de bruit en option - avec facteur Y et source froide
En choisissant le STS, NXP ont été à même d'accroître le volume des expéditions pour répondre aux attentes de leurs clients en atteignant des volumes supérieurs à ceux normalement observés au sein de leur RF Power Business. Face au besoin d'augmenter leur capacité globale, NXP ont pu tirer parti des performances de test multisites du STS pour doubler leur débit.
La 5G New Radio (NR), qui utilise de nouvelles bandes, une largeur de bande plus large et une nouvelle technologie de formation de faisceaux, présente des défis de conception et de test importants qui nécessitent des outils puissants afin d’accélérer l'innovation. En savoir plus sur les nouvelles fonctionnalités et solutions standard pour le test en production.
« Quelques-unes de nos autres unités commerciales ont déjà adopté le STS, et c’est certaines de leurs recommandations qui ont convaincu en premier notre unité commerciale RF de l'essayer pour cette application MIMO massive. Je suis très heureux des progrès, bien sûr ; en fabrication, le débit est crucial. Qui dit débit plus élevé dit plus de périphériques expédiés à nos clients, et ce plus rapidement, donc évidemment de meilleurs résultats commerciaux. »
David Reed, Executive Vice President de Global Operations, NXP
Matériels IoT à microcontrôleurs
Les fabricants de puces semi-conducteur sont bien placés pour savoir que l'émergence de l'Internet des Objets (IoT) a engendré une augmentation de la diversité et du volume des matériels IoT pour semi-conducteur basés sur microcontrôleurs avec un niveau de prix optimisé auquel il peut être difficile de répondre avec des solutions ATE traditionnelles. Pour les matériels IoT basés sur microcontrôleurs fonctionnant sur des normes de communication telles que Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi, et ZigBee, le STS fournit une plate-forme flexible de test en production qui peut être étendue pour faire face aux volumes croissants de production, ou réduite pour répondre aux budgets serrés.
Principales fonctionnalités
- 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes
- Prise en charge des normes de connectivité sans fil, dont les normes Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi, and ZigBee
- Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option
- Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option
L'instrumentation de patterns numériques combine les fonctionnalités du matériel de brochage électronique pour les mesures paramétriques DC avec la flexibilité du cadencement numérique obtenue en envoyant des patterns numériques en rafale basés sur des vecteurs avec des configuration de temps et des niveaux définis.
Butterfly Network est le créateur d'une sonde à ultrasons approuvée par la FDA et la CE, dont le prix de revient est inférieur à 2 000 dollars. Le cœur de ce produit est un dispositif propriétaire à semi-conducteur pour ultrasons sur puce qu’ils ont développé en interne. Découvrez pourquoi Butterfly Network a choisi le STS pour la caractérisation, la validation et les tests de production de sa technologie innovante.
« Lorsque NI a présenté le STS, le choix était évident. Pourquoi ne le ferions-nous pas ? Il a associé PXI à ATE, c'est exactement ce dont nous avions besoin ... Nous avons pu économiser 60 000 $ par mois et obtenir un rendement total de notre investissement en moins de deux ans. Nous avons augmenté la couverture de nos tests et amélioré notre qualité. De plus, en raison de la longévité de la plate-forme PXI et de la stabilité de NI, nous sommes convaincus que nous investissons dans une plate-forme qui existera pendant de nombreuses années à venir. »
Warren Latter, Staff Test Engineer, ON Semiconductor
Dispositifs à signaux mixtes et MEMS
Les fabricants de puces à semi-conducteurs savent que le test de dispositifs typiques et ésotériques sur différents portefeuilles de signaux mixtes conduit souvent à un large éventail d'exigences de test. Pour les périphériques à signaux mixtes, tels que les convertisseurs de données, les périphériques linéaires, les interfaces de communication, les horloges et les capteurs MEMS, STS fournit une plate-forme de test de production flexible qui constitue une option économique pour la migration depuis des plates-formes de test héritées ou pour le déchargement. capacité hors des plateformes ATE coûteuses.
Principales fonctionnalités
- Options d'instrumentation communes pour le test de dispositifs à signaux mixtes et MEMS, y compris numérique, VI à 4 quadrants (unités de mesure de la source) et génération et capture de signaux haute fréquence
- Logiciel interactif qui facilite le développement de programmes de test, accélère le bring-up du testeur, et simplifie la mise au point
- Bibliothèque complète de mesure qui fournit un point de départ de plus haut niveau pour le développement de programmes de test
- Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option
- Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option
IDT a adopté le STS pour obtenir la flexibilité nécessaire à la reconfiguration et l'élargissement des plates-formes de test, parallèlement aux besoins croissants en performances. Ils se sont également servis des investissements initiaux plutôt que de les laisser de côté comme l'aurait exigé un système ATE traditionnel, ce qui requiert généralement d'importants coûts liés au remplacement des outils à mesure que de nouvelles générations de systèmes de test sont introduites.
Analog Devices utilise le STS pour la sonde du wafer et le test final embarqué de portefeuilles de produits allant des dispositifs à signaux mixtes aux RFIC. Découvrez comment le STS a aidé Analog Devices à suivre les progrès technologiques et à accélérer la livraison de produits de haute qualité à leurs clients.
« En fin de compte, nous avons constaté que le STS était 30 % plus rapide, répondait à tous nos critères de réussite et était moins cher à l'achat que la location d'un ATE traditionnel. »
John Cooke, Product Test Engineer, Cirrus Logic
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Services
Services et support pour le STS
Services et support pour le STS
NI fournit des services et des programmes spécialisés d’ingénierie et matériels complets, conçus pour répondre aux besoins de disponibilité critiques des applications de test de semi-conducteurs, tout en vous permettant de maximiser l'efficacité, d'optimiser les performances des testeurs et d'assurer la pérennité des systèmes. Pour chaque déploiement de STS, NI s'associe à vous pour déterminer le niveau de services qui correspond le mieux aux besoins de vos applications, et pour vous assurer une réussite à long terme.