Qu’est-ce que le système de test paramétrique (PTS) ?

Le PTS NI est un système de test paramétrique de semi-conducteurs haut débit et flexible, basé sur la plate-forme PXI de NI. Grâce à une densité de voies, un parallélisme et une vitesse de mesure à la pointe du secteur, le PTS aide les utilisateurs à obtenir plus rapidement des informations sur les données du processus de qualification des semi-conducteurs.

Demander un devis

Pourquoi choisir NI pour le test paramétrique ?

Réduction de la durée des tests paramétriques

Le PTS NI offre jusqu’à 48 voies discrètes d’instrumentation hautes performances afin de vous permettre d’optimiser le débit des tests et de réduire le temps nécessaire pour obtenir des informations pertinentes sur les données. Ce parallélisme massif et cette architecture par broche ne nécessitent pas de matrice de commutation, ce qui protège l’intégrité du signal et garantit les meilleures performances de mesure possibles.

Modification du système en fonction des besoins

Grâce à notre plate-forme PXI modulaire, l’évolution et l’adaptation des systèmes pour répondre à la demande en constante évolution est un jeu d’enfant.  NI propose des kits de mise à niveau et d’extension pour le PTS, afin que vous puissiez facilement faire évoluer vos systèmes selon vos besoins. De plus, la prise en charge des instruments PTS NI sera étendue au fil du temps, en vue de permettre à nos utilisateurs d’ajouter des modules sans acheter de nouveau système.

Sélectionnez l’option qui vous convient le mieux

48 voies

PTS-48

Configuration maximale 
48 voies d’instrumentation SMU de précision 
Choix idéal pour tirer le meilleur parti du parallélisme par broche

32 voies

PTS-32

Configuration intermédiaire
32 voies d’instrumentation SMU de précision
Kit de mise à niveau vers 48 voies disponible

16 voies

PTS-16

Configuration de base
16 voies d’instrumentation SMU de précision
Kit de mise à niveau vers 32 voies disponible
Meilleur point d’entrée avec option de mise à niveau

Nous contacter

Qu’en est-il des autres options de test paramétrique ?

Si vos besoins ne sont pas satisfaits par une configuration PTS NI standard, contactez-nous. Nous pouvons tirer parti de la vaste gamme d’instruments de notre plate-forme PXI pour vous aider à concevoir un système répondant exactement à vos besoins.

Nous contacter

Logiciel de test paramétrique pour la fiabilité

WLR Test Software

Le logiciel Wafer-Level Reliability (WLR) Test Software exploite le PTS NI pour effectuer des tests de fiabilité au niveau du wafer et facilite la réalisation de tests de résistance conformes à la norme JEDEC tels que TDDB, HCI, BTI, etc., sans nécessiter de code.  Ce logiciel fournit également des API LabVIEW, C# et Python pour des cas d’utilisation de développement personnalisé.