Test paramétrique au niveau du wafer

Les ingénieurs de test au niveau du wafer ont besoin de réduire les temps de test sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.

Une approche plus performante des tests paramétriques au niveau du wafer

Au fur et à mesure que les fondeurs de silicium introduisent de nouveaux processus innovants et réduisent la taille des circuits, ils doivent s'assurer que ces changements n'affectent pas la fiabilité à long terme de leurs produits. L'évolution rapide des technologies oblige notamment à collecter de plus en plus de données de fiabilité et à les analyser tout en réduisant le coût des tests. Or, de nombreux ingénieurs fiabilité se voient dans l'impossibilité de relever ces défis avec des solutions traditionnelles. Ils se tournent alors vers des solutions modulaires et souples, capables de s'adapter à l'évolution des besoins.

Brochure NI pour le test des semi-conducteurs

Découvrez comment réduire le coût de vos tests par le biais d'une approche du test des semi-conducteurs basée plate-forme.

Ressources associées

Produits et solutions

Réseau de partenaires NI

Le Réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d’experts en développement de domaines, d’applications et de tests globaux travaillant en étroite collaboration avec NI pour répondre aux besoins de la communauté des ingénieurs. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d’industries et de domaines d’application.

Ressource pour les applications


Kit de ressources pour la plate-forme PXI


Découvrez les fondamentaux de la plate-forme PXI pour la caractérisation de semi-conducteurs, à l'aide de notes architecturales, d'études de cas pertinentes et d'indicateurs de performances.