Descripción general del curso Integración del subsistema de pruebas VCSEL I-V
El subsistema de pruebas VCSEL IV proporciona una solución personalizada para probar dispositivos de láser emisor de superficie de cavidad vertical (VCSEL). En este curso, los estudiantes aprenderán cómo integrar el subsistema de pruebas VCSEL I-V en sus sistemas de prueba existentes y realizar pruebas básicas para garantizar una conectividad adecuada.
Formatos disponibles
Capacitación virtual no disponible para este curso
Capacitación en aula no disponible para este curso
Clases privadas no disponibles para este curso
Objetivos del curso
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Describa el propósito general del subsistema de pruebas VCSEL I-V y localice los recursos disponibles para ayudar con la integración en un sistema de pruebas más amplio.
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Integre el subsistema de pruebas VCSEL I-V con los demás componentes de hardware de un sistema de pruebas existente.
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Describa los componentes de software que se instalan como parte del VCSEL I-V Test Software.
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Utilice los ejemplos VI en LabVIEW para generar datos de compensación, que aseguran mediciones precisas de I-V durante la ejecución de la prueba.
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Mida el voltaje de pulso (V) y la corriente de pulso (I) a través de un DUT VCSEL para poder caracterizar el desempeño del DUT.
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Utilice el proyecto de ejemplo VCSEL Test Result Viewer, accesible desde NI Example Finder, para explorar cualquier problema en los resultados de la prueba de su medición I-V.
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Depure y solucione los problemas comunes que surgen con System Configuration, la operación del sistema y la ejecución del programa de prueba.
Detalles del curso
Duración
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Bajo demanda: 2 horas
Audiencia
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Integradores de sistemas responsables de crear soluciones de prueba para clientes de producción de VCSEL.
Prerrequisitos
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LabVIEW Core 2 o experiencia equivalente
Productos de NI utilizados
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VCSEL I-V Test Software 20.0
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Subsistema de pruebas VCSEL I-V de NI
Materiales de formación/capacitación
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La capacitación bajo demanda incluye materiales del curso digital entregados a través del centro de aprendizaje de NI, disponibles durante la duración del acceso de su suscripción
Costo en créditos
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Bajo demanda: Incluido con suscripción de software y contratos empresariales, o 5 créditos de servicios educativos o 2 créditos de capacitación
Contenido del curso Integración del subsistema de pruebas VCSEL I-V
| Lección | Descripción general | Temas |
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Introducción al subsistema de pruebas VCSEL I-V | Describa el propósito general del subsistema de pruebas VCSEL I-V y localice los recursos disponibles para ayudar con la integración en un sistema de pruebas más amplio. |
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Integración del hardware VCSEL en un sistema de pruebas | Integre el subsistema de pruebas VCSEL I-V con los demás componentes de hardware de un sistema de pruebas existente. |
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Exploración del VCSEL I-V Test Software | Describa los componentes de software instalados como parte del VCSEL I-V Test Software. |
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Generación de datos de compensación | Utilice los ejemplos VI en LabVIEW para generar datos de compensación, que aseguran mediciones precisas de I-V durante la ejecución de la prueba. |
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Realización de mediciones I-V | Mida el voltaje de pulso (V) y la corriente de pulso (I) a través de un DUT VCSEL para poder caracterizar el desempeño del DUT. |
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Visualización de los resultados de la prueba | Utilice el proyecto de ejemplo VCSEL Test Result Viewer, accesible desde NI Example Finder, para explorar cualquier problema en los resultados de la prueba de su medición I-V. |
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Solucionar problemas comunes | Depure y solucione los problemas comunes que surgen con System Configuration, la operación del sistema y la ejecución del programa de pruebas. |
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