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El curso medir la fiabilidad a nivel de oblea lo introduce a las pruebas de fiabilidad a nivel de oblea (WLR), así como también cómo integrar hardware como las unidades de medida de fuente (SMUs) PXI y sus dispositivos bajo prueba (DUTs) con el software de pruebas WLR. Este curso lo ayuda a comprender cómo usar el software de pruebas WLR para realizar pruebas de esfuerzo de 2 y 4 terminales y barridos paramétricos para medir la fiabilidad de las obleas de semiconductores. Se familiarizará con la compensación de SMU antes de realizar pruebas WLR y mapear canales SMU al DUT. Además, el curso le enseña cómo realizar pruebas de desglose de óxido de puerta dependiente del tiempo (TDDB) e inestabilidad de temperatura de polarización/inyección de portador caliente (BTI/HCI). También aprenderá a solucionar problemas comunes que surgen con la configuración del sistema, el funcionamiento del sistema y la ejecución de las pruebas. El curso medir la fiabilidad a nivel de oblea se recomienda para ingenieros de pruebas que necesitan una solución de software lista para usar para probar la fiabilidad de sus obleas de semiconductores.
Características principales: