Acelere el tiempo para llegar al mercado con fiabilidad a nivel de oblea altamente paralela

Las geometrías de los dispositivos semiconductores se están reduciendo y volviendo más complejas, mientras que las principales tendencias tecnológicas, como los vehículos autónomos, ejercen una presión adicional sobre la cadena de suministro de semiconductores para brindar mayores garantías de calidad del producto. Para mantenerse al día con estas desafiantes demandas y aún así lanzar nodos de tecnología estables antes que la competencia, los ingenieros de procesos de obleas de semiconductores necesitan más datos de medidas de fiabilidad y los necesitan más rápido que nunca.

 

Una solución de fiabilidad a nivel de oblea (WLR) debe cubrir estos requisitos clave:

 

  • Apoyar el desarrollo de nodos de tecnología de oblea, la integración de procesos y el monitoreo de procesos.
  • Generar rápidamente cantidades suficientes de datos de medidas de fiabilidad para construir modelos estadísticos precisos y permitir decisiones basadas en datos.
  • Cumplir con los estándares JEDEC para tensiones WLR comunes de 2 y 4 terminales (TDDB, HCI y BTI/NBTI)
  • Disminuir el tiempo total de prueba de WLR y acelerar la velocidad de los datos
  • Maximizar la eficiencia de los gastos de capital y el espacio de la planta de manufactura

Solución de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores

  • Solución WLR altamente paralela y optimizada para densidad de canales y velocidad de medidas
  • Hasta 100 canales SMU de clase fA PXIe-4135 en un solo rack de 40 U de 19 pulgadas (o hasta 50 canales en un rack de 24 U de 19 pulgadas)
  • SMUs modulares e independientes con una verdadera arquitectura SMU por pin
  • Software de aplicación especializado para tensiones configurables de 2 y 4 terminales
  • TestStand software de administración de pruebas proporciona una funcionalidad integrada para perfilar y optimizar la velocidad y el paralelismo de ejecución de las pruebas, la integración de bases de datos y la generación de reportes.

Ventajas de la solución

"La reducción del tiempo de prueba con este método de SMU por pin es espectacular y no sería posible con las grandes SMUs tradicionales. Nuestro método eliminó el tiempo de conmutación y medidas serializadas, reduciendo el tiempo total de prueba a probar un solo punto de prueba".

-Bart De Wachter, investigador del grupo de sistemas y tecnología de semiconductores, imec

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NI ofrece una variedad de opciones de integración de soluciones personalizadas para los requisitos específicos de su aplicación. Puede utilizar sus propios equipos internos de integración para el control total del sistema o aprovechar la experiencia de NI y nuestra red NI Partner Network a nivel mundial para obtener una solución lista para usar.

NI Partner Network

La red NI Partner Network es una comunidad global de expertos en la materia, aplicaciones y desarrollo de pruebas en general que trabajan en estrecha colaboración con NI para satisfacer las necesidades de la comunidad de ingenieros. Los socios de NI son proveedores confiables de soluciones, integradores de sistemas, consultores, desarrolladores de productos y expertos en servicios y canales de ventas capacitados en una amplia gama de industrias y áreas de aplicación.

Servicios y soporte

NI colabora con clientes durante el ciclo de vida de una aplicación, proporcionando capacitación, soporte técnico, servicios de consultoría e integración y programas de mantenimiento. Los equipos pueden descubrir nuevas habilidades al participar en grupos de usuarios geográficos y específicos de NI y desarrollar habilidades con formación y capacitación en línea y en persona.

Folleto de la solución de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores

Aprenda sobre la solución de NI de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores.