Prueba funcional y paramétrica de microelectrónica

Reducir el riesgo y acelerar los entregables del programa

Para superar los desafíos que presentan estos nuevos y complejos DUTs, NI ofrece varias herramientas de hardware y software que permiten a los ingenieros de pruebas desarrollar sistemas de pruebas que se adapten a las necesidades de gran variedad y bajo volumen de productos y brinden más escalabilidad para aplicaciones futuras. Nuestro novedoso enfoque reduce sustancialmente los costos de capital utilizando equipos de prueba de alto rendimiento combinados con IP de medidas clave, lo que le permite capturar mejores datos más rápido y ejecutar múltiples casos de prueba simultáneamente con una velocidad y calidad de medidas líderes en la industria.

SOLUCIÓN DESTACADA

Validar componentes y módulos del arreglo escaneado electrónicamente

La arquitectura de referencia de la caracterización del arreglo escaneado electrónicamente (ESA) se diseñó para simplificar la validación de componentes y módulos microelectrónicos utilizados en sistemas electromagnéticos de próxima generación, como los radares AESA. La arquitectura de referencia puede ayudar a impulsar la eficiencia del desarrollo de la prueba, aumentar la cobertura de la prueba y reducir el costo general de la prueba.

Arquitectura de referencia del ESA

Arquitectura de referencia de caracterización ESA

La arquitectura de referencia de caracterización del ESA proporciona un punto de partida de alto nivel para que los ingenieros de caracterización y pruebas realicen medidas de RF pulsada en los elementos individuales de un sistema ESA.

DC a RF

La cobertura de medidas de NI varía desde DC a onda milimétrica, cubriendo las bandas L a Ka, garantizando la cobertura de medidas correcta para todo su plan de pruebas.

Sincronización de sub-nanosegundos

Sincronice perfectamente los instrumentos de RF y de banda base con una precisión de sub-nanosegundos para ofrecer una solución completa para pruebas de I/Q de banda base y RF.

Amplio ancho de banda instantáneo

Con hasta 1 GHz de ancho de banda instantáneo disponible, la instrumentación de RF de NI es adecuada para probar componentes y módulos clave del sistema para radar, guerra electrónica y comunicaciones por satélite.

Experiencia de software unificada

Con paneles de interfaz interactivos y fáciles de usar para desarrollar y depurar sistemas, y APIs automatizadas para implementar tanto sistemas de caracterización como de prueba de producción, la solución de NI brinda una experiencia de software completa y unificada a lo largo del ciclo de diseño.

Colabore con un partner de NI

La red NI Partner Network es una comunidad global de expertos en dominios, aplicaciones y pruebas que trabajan con NI para satisfacer sus necesidades. Los partners de NI son proveedores confiables de soluciones, integradores de sistemas, consultores, desarrolladores de productos y expertos en servicios y canales de ventas capacitados en una variedad de industrias y áreas de aplicación.

Recursos adicionales

Desafíos de diseño y pruebas del moderno arreglo escaneado electrónicamente

El ESA es la base de muchas aplicaciones en la industria aeroespacial y de defensa. Conozca el ciclo de vida del diseño y los desafíos de prueba asociados con los dispositivos ESA modernos y obtenga información sobre la futura evolución de las aplicaciones de ESA.

Metodologías de prueba para módulos modernos de recepción y transmisión

Conozca la arquitectura del moderno módulo T/R e investigue la metodología de pruebas clave y las prácticas recomendadas de medidas necesarias para caracterizar y probar completamente estos componentes avanzados.