셀프 테스트와 자기 교정

[자기 교정] VI를 사용하여 디바이스에서 자기 교정을 수행합니다. 자기 교정은 디바이스에 저장된 내장 참조에 따라 교정 상수를 조절합니다. 새 교정 상수는 외부 교정 중에 생성된 교정 상수에 따라 정의됩니다. 이는 측정값이 외부 기준에 준하도록 하기 위해서입니다. 새 교정 상수는 디바이스 메모리의 다른 영역에 저장되므로 외부 교정 도중에 생성된 상수에 영향을 미치지 않습니다. 디바이스가 외부 교정을 받은 경우 이외에는 언제나 자기 교정을 수행하여 디바이스를 환경에 맞도록 조절할 수 있습니다.

노트 외부 교정은 계측 연구소나 추적 가능한 교정 표준을 유지하는 기관에 의해 수행되어야 합니다. 보다 자세한 정보는 ni.com/calibration을 방문하십시오. 자기 교정을 시작하기 전에 모든 AC 입력 신호의 연결을 해제하거나 비활성화합니다. AC 또는 다른 여러 신호는 자기 교정의 실패를 초래하거나, 교정의 정확성을 떨어뜨릴 수 있습니다. SCXI 모듈을 비롯하여 일부 디바이스 타입은 자기 교정을 지원하지 않습니다. NI-DAQmx 문서를 참조하여 자기 교정이 가능한 디바이스를 찾습니다.

팁  E 시리즈 디바이스의 아날로그 출력 채널은 자기 교정 중 변동하므로, 자기 교정 전에 미리 아날로그 출력 채널의 연결을 끊어야 할 수도 있습니다.

[셀프 테스트] VI를 사용하여 시스템 디바이스가 기본적인 I/O 함수를 수행할 수 있는지 확인합니다. 드라이버가 일부 디바이스 리소스에 독점적으로 접근해야할 필요가 있으므로, 셀프 테스트가 실행되는 동안에는 시스템에서 다른 태스크를 실행하지 마십시오. I/O 라인의 상태는 테스트 전체를 통해 유지되기 때문에, 외부 장비로부터 디바이스를 연결 해제하지 않아도 됩니다.

이러한 VI는 하드웨어 관리 서브팔레트에서 찾을 수 있습니다.