DAQデバイスなどのカウンタを使用して、周期、半周期、パルス幅、エッジ間隔を測定し、イベントの継続時間または2つのイベントの間隔を決定できます。

周期測定により、パルスの連続する立ち上がりエッジ間または立ち下がりエッジ間の時間を測定します。半周期のパルス測定では、連続するエッジ間の経過時間を測定します。パルス幅の測定では、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジ、あるいは立ち下がりエッジから立ち上がりエッジ間の経過時間を測定します。エッジ間測定では、2つのデジタル信号の立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジ間の時間を測定します。

周期、半周期、パルス幅、エッジ間隔の公式は以下のとおりです。

周期、半周期、パルス幅、またはエッジ間隔（秒単位） = カウント / カウンタのタイムベースレート（Hz単位）

ここで、カウントは測定された単一または複数の入力信号の1つの周期、半周期、パルス幅、またはエッジ間で経過したカウンタタイムベースのティック数です。

カウンタタイムベースレートは既知の周波数で、通常内部タイミングソースです。カウンタのタイムベースレートが不明な場合、カウンタタイムベースのティック数を基準とした測定のみ実行できます。これはカウンタタイムベースに外部信号を使用中で、外部信号の周波数が不明または非周期的な場合に適用します。

周期、半周期、パルス幅、エッジ間隔は、時間測定の例です。時間測定の詳細については、「NI-DAQmxで時間測定を構成する」および「2つのカウンタによる測定」を参照してください。