Test de limite en fréquence
- Mise à jour2025-07-30
- Temps de lecture : 7 minute(s)
Effectue des tests de limite sur les données de signaux ou de clusters en entrée. Le VI compare signal en entrée à limite supérieure et limite inférieure et ne tient pas compte des entrées de limite non câblées. Vous pouvez câbler des valeurs de sortie à un graphe pour afficher les limites, le signal et les échecs. Câblez des données à l'entrée signal en entrée pour déterminer l'instance polymorphe à utiliser ou sélectionnez manuellement l'instance.

Entrées/Sorties
signal en entrée
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signal en entrée contient le signal à tester afin de s'assurer qu'il soit bien compris dans l'enveloppe délimitée par les limites haute et basse.
limite supérieure
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limite supérieure spécifie la limite supérieure de l'enveloppe. La valeur par défaut est Inf.
limite inférieure
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limite inférieure spécifie la limite inférieure de la zone. La valeur par défaut est –Inf.
entrée d'erreur (pas d'erreur)
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entrée d'erreur décrit les conditions d'erreur qui ont lieu avant l'exécution de ce nœud. Cette entrée fournit la fonctionnalité entrée d'erreur standard.
config du test de limite
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config du test de limite spécifie la zone dans laquelle le test de limite réussit, et spécifie si les valeurs limites y sont inclues
échecs
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échecs renvoie l'emplacements des points de test qui ont échoué.
test réussi ?
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test réussi ? indique le résultat du test de masque de limite. Ce booléen renvoie VRAI si le signal est inférieur ou égal à la limite supérieure, et supérieur ou égal à la limite inférieure ; dans ce cas, le test de limite est réussi. Si ce booléen est FAUX, le test de limite a échoué.
résultats du test
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résultats du test renvoie les résultats du test de limite pour chaque point de données. Ce VI renvoie VRAI si le point de données est inférieur ou égal à la limite supérieure et supérieur ou égal à la limite inférieure.
valeurs en sortie
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valeurs en sortie contient les limites haute et basse, le signal et les échecs. Vous pouvez câbler cette sortie à un graphe pour visualiser les valeurs. Le premier élément du tableau correspond au signal en entrée. Les valeurs x0 et dx de cette waveform sont modifiées pour qu'il soit facile de la tracer avec les limites supérieure et inférieure. Le deuxième élément du tableau correspond à la waveform d'échec. La waveform d'échec contient NaN au niveau des points où le test de limite a réussi et contient le signal en entrée là où le test de limite a échoué. Les troisième et quatrième éléments du tableau sont respectivement la limite supérieure et basse.
sortie d'erreur
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sortie d'erreur contient des informations sur l'erreur. Cette sortie fournit la fonctionnalité sortie d'erreur standard.
distance
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distance renvoie les mesures de distance entre signal en entrée et limite supérieure et limite inférieure.
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Exemples
Reportez-vous aux exemples de fichiers inclus avec LabVIEW suivants.
- labview\examples\Signal Processing\Waveform Measurements\Limit Testing Measurement.vi
- labview\examples\Signal Processing\Waveform Measurements\Limit Testing for Unevenly Sampled Data.vi
signal en entrée
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f0
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spectre
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entrée d'erreur (pas d'erreur)
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zone de réussite
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inclure LS
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échecs
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valeurs de x
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test réussi ?
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résultats du test
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valeurs en sortie
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x0
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sortie d'erreur
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distance
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