Funktionale und parametrische Tests für Mikroelektronik

Risiken reduzieren und Programmergebnisse schneller erhalten

Um die Herausforderungen dieser neuen, komplexen Prüflinge zu meistern, bietet NI verschiedene Hardware- und Softwaretools an, die es Testingenieuren ermöglichen, Testsysteme zu entwickeln, die den Anforderungen, zu denen eine hohe Variabilität und eine geringe Stückzahl zählen, gerecht werden und mehr Skalierbarkeit für zukünftige Anwendungen bieten. Unser neuartiger Ansatz reduziert die Kapitalkosten durch die Verwendung hochleistungsfähiger Testgeräte in Kombination mit wichtiger Mess-IP erheblich, sodass Sie bessere Daten schneller erfassen und mehrere Testfälle gleichzeitig mit branchenführender Messgeschwindigkeit und -qualität ausführen können.

EMPFOHLENE LÖSUNG

Validieren elektronisch abgetasteter Array-Komponenten und -Module

Die sogenannte Electronically Scanned Array (ESA) Characterization Reference Architecture wurde entwickelt, um die Validierung von mikroelektronischen Komponenten und Modulen zu vereinfachen, die in elektromagnetischen Systemen der nächsten Generation wie AESA-Radaren verwendet werden. Die Referenzarchitektur kann dazu beitragen, die Effizienz der Testentwicklung zu steigern, die Testabdeckung zu erhöhen und die Gesamtkosten für Tests zu verringern.

ESA-Referenzarchitektur

DC bis RF

Die Messabdeckung von NI reicht von DC bis mmWave und deckt die Bänder L bis Ka ab, wodurch die richtige Messabdeckung für Ihren gesamten Testplan gewährleistet wird.

Subnanosekunden-Synchronisierung

Synchronisieren Sie Basisband- und HF-Messgeräte eng mit einer Subnanosekunden-Genauigkeit, um eine Komplettlösung für HF- und Basisband-I/Q-Tests bereitzustellen.

Große Echtzeitbandbreite

Mit einer verfügbaren Echtzeitbandbreite von bis zu 1 GHz eignen sich NI-RF-Messgeräte besonders für das Testen wichtiger Systemkomponenten und -module für Radar, elektronische Kampfführung und Satellitenkommunikation.

Einheitliches Softwareerlebnis

Mit benutzerfreundlichen interaktiven Schnittstellenpanels für die Entwicklung und Fehlerbehandlung von Systemen und automatisierten APIs für die Bereitstellung von Charakterisierungs- und Produktionstestsystemen bietet die NI-Lösung eine vollständige, einheitliche Softwareerfahrung über den gesamten Entwurfszyklus hinweg.

Mit einem NI Partner zusammenarbeiten

Das NI Partner Network ist eine globale Gemeinschaft von Domänen-, Anwendungs- und Testexperten, die mit NI zusammenarbeiten, um Ihre Anforderungen zu erfüllen. NI Partner sind erprobte Anbieter von Produktlösungen, Systemintegratoren, Berater, Produktentwickler sowie Experten für Dienstleistungen und Vertriebskanäle, die über Erfahrungen in einer Vielzahl von Branchen- und Anwendungsbereichen verfügen.

Additional Resources

Design and Test Challenges of the Modern Electronically Scanned Array

The ESA is the foundation for many applications in aerospace and defense. Learn about the design life cycle and test challenges associated with modern ESA devices and get insights into the future evolution of ESA applications.

Test Methodologies for Modern Transmit Receive Modules

Learn about the architecture of the modern T/R module and investigate the key testing methodology and measurement best practices required to fully characterize and test these advanced components.