RF-Test mit STS – Kursübersicht
Der Kurs „RF-Test with STS“ folgt dem typischen Auftraggeber-Workflow und den Auftragsetappen. Dazu gehört etwa auch die enge Interaktion mit der Standardhardware für STS RF. Nach Abschluss dieses Kurses kann ein RF-Testentwickler STS-RF-Testerressourcen interaktiv einsetzen, um RF-Testprogramme, die auf RF-Konfigurationen basieren, zu erstellen, zu modifizieren, auszuführen und auf Fehler zu prüfen. Dieser Kurs baut auf den grundlegenden STS-Kenntnissen auf, die in den Kursen „Testprogrammentwicklung mit STS“ und „Test-Codemodulentwicklung mit STS und .NET/C#“ vermittelt werden.
Verfügbare Formate
Für diesen Kurs ist keine virtuelle Schulung verfügbar
Für diesen Kurs ist keine Präsenzschulung verfügbar
Für diesen Kurs ist kein Privatunterricht verfügbar
Kursziele
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Erkennen Sie die Komponenten, Funktionen und den Zweck des STS-RF-Subsystems
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Verbinden Sie sich mit dem RF-Prüfling und prüfen Sie ihn auf Durchgang
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Verwenden Sie das Framework zur Halbleitertestautomatisierung (STAF), um ein RF-STS-Projekt zu erstellen
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Verwenden Sie InstrumentStudio und Trace Viewer, um ein RF-STS-Projekt zu überwachen und zu debuggen
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Verwenden Sie Verfahren der Verkürzung der Testzeit (TTR), um die Leistung des RF-Testsystems zu verbessern
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Folgen Sie den bewährten Methoden für die Freigabe des RF-STS-Programms für die Produktion
Kursdetails
Dauer
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On-Demand: 4,5 Stunden
Zielgruppe
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Entwickler von Halbleitertests, die das Standard-RF-NI-Halbleitertestsystem (STS) verwenden oder evaluieren, um Tests für RF-ICs zu entwickeln und durchzuführen
Kursvoraussetzungen
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Allgemeine Kenntnisse über Halbleitertestverfahren und -methoden
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Kurs „Test Program Development with STS“
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Kurs „Test-Codemodulentwicklung mit STS und .NET/C#“
Verwendete NI-Produkte
Wenn Sie den On-Demand-Kurs absolvieren:
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Halbleitertestsystem (STS)
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STS-Software-Bundle 25.0
Schulungsmaterialien
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On-Demand-Schulungen umfassen digitale Kursmaterialien, die über den Lernbereich von NI bereitgestellt werden und für die Dauer Ihres Abonnements verfügbar sind.
Kosten in Credits
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On-Demand: In Softwareabonnements und Unternehmensverträgen enthalten, alternativ fünf Education Services Credits oder zwei Training Credits
RF-Test mit STS – Kursübersicht
| Lektion | Übersicht | Themen |
|---|---|---|
| RF-STS-Hardware kennenlernen | Erkennen Sie die Komponenten des STS-RF-Subsystems und deren Funktionalität. |
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| Einführung in die Kalibrierung Ihres RF-STS | Identifizieren Sie die Hauptkategorien der RF-STS-Kalibrierung und erkunden Sie die Details zur Durchführung der Prüfkopfkalibrierung. |
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| Kennenlernen des RF-Prüflings | Lernen Sie das RF-Prüfling (DUT) und dieDevice Interface Board (DIB) kennen, die zwischen dem Prüfling und den Instrumenten des STS vermittelt. |
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| Anschließen des RF-Prüflings an den Tester | Erstellen Sie mithilfe der Prüflingssetup-Dokumentation eine Pinzuordnung, damit Test- und Messsoftware die Verbindungen zwischen Prüflingspins und Instrumenten im STS identifizieren kann. |
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| Inbetriebnahme des RF-Prüflings | Verwenden Sie Instrumente des STS, um den Prüfling einzuschalten und Kontinuitätstests an Prüflingspins durchzuführen. |
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| Kalibrier-Workflows und Tools auf Prüflingsebene | Erweitern Sie die Systemkalibrierung bis zum Prüfling, um die Genauigkeit Ihrer Testmessungen sicherzustellen. |
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| Einführung in den Prozess der Erstellung eines RF-STS-Testprogramms | Erklären Sie den Zweck des Frameworks zur Halbleitertestautomatisierung (STAF) und lernen Sie den High-Level-Workflow zur Erstellung einer neuen RF-STS-Testsequenz kennen. |
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| Einführung in den Komponenten des STAF | Identifizieren Sie die verschiedenen Komponenten des STAF und erklären Sie deren Zweck bei der Erstellung eines RF-STS-Testprogramms. |
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| Erstellung einer neuen RF-IC-Testsequenz | Verwenden Sie STAF- und TSRU-Komponenten, um eine neue RF-STS-Testsequenz zu erstellen. |
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| Fehlersuche mit InstrumentStudio | Überblick über grundlegende STS-Fehlersuchmethoden und Einsatz von InstrumentStudio zur Fehlersuche bei RF-Instrumenten |
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| Fehlersuche mit Trace Viewer | Überblick über die Nutzung des Runtime Data Viewers und Erkundung der Trace Viewer zur Fehlersuche in RF-STS-Testprogrammen |
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| Verkürzen der RF-STS-Testzeit | Überblick über allgemeine STS-Methoden zur Testzeitverkürzung sowie spezifische Methoden für RF-STS-Tests |
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| Freigabe des RF-STS-Testprogramms für die Produktion | Ausführen von Aufgaben zur Unterstützung der Freigabe des Testprogramms für die Produktionsumgebung |
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Lernpfad fortsetzen
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Hier lernen Sie den effektiven Einsatz von NI-Oszilloskopen zur Auswahl des richtigen Messgeräts und der passenden Sonden für Ihre Messanforderungen.
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Dieser Kurs umfasst eine Einführung in Switches und den Prozess zum Einrichten von Switches in Ihrem System sowie fortgeschrittenere Themen, Systemwartung und allgemeine Empfehlungen zur Problembehandlung.
Einrichtung, Steuerung und Optimierung von SMU und Netzteilen
Der Kurs „SMU and Power Supply Set-Up, Control, and Optimization“ befähigt Ingenieure im Bereich Prüfen und Validieren, Spannungen und Ströme zu erzeugen und zu messen, sodass sie ihre jeweiligen Prüfanforderungen erfüllen können.
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