Integration des VCSEL-IV-Test-Subsystems – Kursübersicht

Das VCSEL I-V-Testsubsystem bietet eine anpassbare Lösung für das Testen von Oberflächenemittern bzw. Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser-(VCSEL-)Geräten. Die Studierenden lernen in diesem Kurs, wie sie das VCSEL-IV-Test-Subsystem in ihre vorhandenen Testsysteme integrieren und grundlegende Tests durchführen, um eine ordnungsgemäße Konnektivität sicherzustellen.

Verfügbare Formate

 

Für diesen Kurs ist keine virtuelle Schulung verfügbar

 

Für diesen Kurs ist keine Präsenzschulung verfügbar

 

Für diesen Kurs ist kein Privatunterricht verfügbar

Kursziele

Kursdetails

Dauer

Zielgruppe

Kursvoraussetzungen

Verwendete NI-Produkte

Schulungsmaterialien

Kosten in Credits

Integration des VCSEL-IV-Test-Subsystems – Kursübersicht

LektionÜbersichtThemen

Einführung in das VCSEL I-V Test Subsystem

Den übergeordneten Zweck des VCSEL-IV-Test-Subsystems beschreiben und verfügbare Ressourcen zur Unterstützung der Integration in ein größeres Testsystem finden.

  • Was ist das NI VCSEL I-V Test Subsystem?
  • Zusätzliche Lernmaterialien

Integration der VCSEL-Hardware in ein Testsystem

Das VCSEL-IV-Test-Subsystem mit den anderen Hardwarekomponenten eines vorhandenen Testsystems integrieren.

  • Untersuchung der Hardwarekomponenten eines VCSEL-IV-Test-Subsystems
  • Auswahl einer Option zur Hardwarekonfiguration
  • Entwurf Ihrer Lastplatine
  • Erste Schritte mit dem VCSEL I-V Test Subsystem
  • Wartung Ihrer Hardware

Einführung in die VCSEL I-V Test Software

Die Softwarekomponenten beschreiben, die als Teil der VCSEL I-V Test Software installiert sind.

  • Installation der VCSEL I-V Test Software
  • LabVIEW-Lieferbeispiele
  • Erstellen kundenspezifischer Codemodule

Erzeugen von Kompensationsdaten

Beispiel-VIs in LabVIEW verwenden, um Kompensationsdaten zu erzeugen, die genaue I-V-Messungen während der Testausführung gewährleisten.

  • Was sind Kompensationsdaten?
  • Durchführung von Systemkompensation
  • Durchführung von Impulskompensation

Durchführung von I-V-Messungen

Die Impulsspannung (V) und den Impulsstrom (I) über einem VCSEL-Prüfling messen, um die Leistung des Prüflings zu charakterisieren.

  • Vorbereitung auf die Durchführung von I-V-Messungen
  • Durchführung von I-V-Messungen
  • Leistung von serieller und paralleler Ausführung vergleichen

Anzeigen der Testergebnisse

Das Beispielprojekt „VCSEL Test Result Viewer“, das über die NI-Suchmaschine für Beispiele zugänglich ist, verwenden, um eventuelle Probleme bei den Testergebnissen Ihrer I-V-Messung zu untersuchen.

  • Wann Test Result Viewer verwendet wird
  • Anzeigen der Testergebnisse

Fehlersuche bei häufigen Problemen

Fehler suchen und beheben bei häufig auftretenden Problemen mit Systemkonfiguration, Systembetrieb und Testprogrammausführung.

  • Beheben von Problemen bei der Systemkonfiguration
  • Beheben von Problemen beim Systembetrieb
  • Beheben von Problemen mit dem Testprogramm

 

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