PXIe-4147

beginnend bei 28.200,00 €
Artikelnummer(n):
786888-01

PXI Express, Präzisions-SMU für PXI, 4 Kanäle, ±8 V, 3 A

Übersicht

Die PXIe-4147 ist eine SMU (Source Measure Unit) mit vier Kanälen, die sich ideal für Anwendungen mit hoher Pin-Anzahl eignet. Sie verfügt über einen Vierquadrantenbetrieb und jeder Kanal bietet integriertes Remote Sensing auf vier Leitern für genaue Messungen. Dank der Sample-Rate der PXIe-4147 kann die Dauer der Messung reduziert, das Transientenverhalten erfasst und eine schnelle Strom-Spannungs-Charakterisierung von Prüflingen vorgenommen werden. Mit einer High-Speed-Sequencing-Engine können SMUs miteinander oder mit anderen Messgeräten wie Schaltmodulen oder Hochgeschwindigkeits-Digitaltestmodulen synchronisiert werden. Darüber hinaus können Sie die Reaktion der PXIe-4147 auf jede Last abstimmen, um mithilfe der SourceAdapt-Technologie optimale Reaktionen mit maximaler Stabilität und minimalen Transienten zu erzielen.
Artikelnummer​n (1) Preis
786888-01

NI-Vorlaufzeit
27-28 Wochen
Stromempfindlichkeit
100 fA
Mit Hilfsstromversorgung

Anzahl von SMU-Kanälen
4
Spannungsmessbereich
-8 V bis 8 V
SourceAdapt
Ja
Maximale DC-Sink-Leistung
24 W

PXIe-4147 Zubehör und Software

  • Produkt (Artikelnummer)
    Beschreibung
    Empfohlene Anwendungsfälle
    LabVIEW Professional (784584-35)
    LabVIEW Professional Development System, Windows, alle Sprachen, Abonnementlizenz, Download

    NI LabVIEW wird für Test-, Mess-, Automatisierungs- und Steueranwendungen empfohlen und ermöglicht es Anwendern, schnell eine Verbindung zu realen Systemen herzustellen, ihre Produktivität zu steigern und sich an jede Herausforderung anzupassen. LabVIEW bietet die folgenden Funktionen:

    • Verbindung zu jedem Gerät, unabhängig vom Hersteller
    • Eine native Benutzeroberfläche zur Überwachung und Steuerung von Tests
    • Tausende von technischen Analysefunktionen
    • Nahtlose Interoperabilität mit gängigen Programmiersprachen wie Python, C und .NET

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    LabVIEW+ Suite (788509-35)
    NI LabVIEW+ Suite, Abonnementlizenz, Download

    Empfohlen für Ingenieure, die vollständige Test- und Validierungssysteme erstellen, in denen modulare Codeentwicklung und übergeordnete Frameworks erforderlich sind, um die Entwicklung für kürzere Markteinführungszeiten zu beschleunigen.

    Die LabVIEW+ Suite umfasst folgende Produkte:

    • NI LabVIEW—Bietet eine grafische Programmierumgebung für die Entwicklung von Testsystemen und ermöglicht die Anbindung an alle Geräte und vollständig integrierte Benutzeroberflächen.
    • NI TestStand—Durch die Bereitstellung einer handelsüblichen Testmanagementsoftware für Validierungs- und Produktionstests entfällt die Notwendigkeit einer zeitintensiven internen Entwicklung und Wartung von Sequencern.
    • NI DIAdem: Erspart Ingenieuren Hunderte von Stunden an manueller Datenanalyse und Protokollerstellung durch Automatisierung.
    • NI FlexLogger™ Software: Vereinfacht die Datenerfassung und -protokollierung mit interaktiven Messeinstellungen für NI-DAQ-Hardware.
    • NI InstrumentStudio™ Software: Ist ein zentraler Ort für die Konfiguration, Messung und Automatisierung.
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    InstrumentStudio Professional (789987-35)
    InstrumentStudio Professional, Abonnementlizenz, Download

    Empfohlen für schnelle und einfache Messungen mit Geräten. Nutzen Sie den in InstrumentStudio integrierten Sequencer, um Tests und Messungen ohne vorherige Programmierkenntnisse zu automatisieren. Erstellen und verwenden Sie Plug-ins, um mit Hardware von Drittanbietern zu interagieren und benutzerdefinierte Messungen durchzuführen.

    Schlüssel-Workflows

    • Konfigurieren und steuern Sie Geräte schnell in einer interaktiven, projektbasierten Umgebung.
    • Führen Sie benutzerdefinierte Messungen durch und steuern Sie Hardware von Drittanbietern mit Hilfe der Plug-ins.
    • Schließen Sie die Lücke zwischen der ersten Messung und der Automatisierung mit dem integrierten Sequencer oder exportieren Sie Konfigurationen in fortgeschrittene Automatisierungswerkzeuge wie NI TestStand und NI LabVIEW.
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