Emerson bringt modulare Testarchitektur für Automotive-Display- und Kameraschnittstellen auf den Markt

AUSTIN, Texas (16. Juli 2026) – Emerson stellt heute eine neue modulare Testarchitektur vor, die der zunehmenden Komplexität softwaredefinierter Fahrzeuge gerecht wird. Die auf NI-Technologie basierende Lösung für Automotive-Vision-Anwendungen kombiniert einen leistungsstarken FPGA-Kern mit austauschbaren Serializer-/Deserializer-(SerDes)-Schnittstellenmodulen und ermöglicht es Ingenieuren, Testsysteme flexibel an sich weiterentwickelnde Anforderungen im Bereich Automotive-Displays und Kameras anzupassen.

Mit dieser Einführung treibt Emerson die Weiterentwicklung der NI PXI-Plattform als offene, modulare Grundlage für zukünftige Testanforderungen weiter voran und erweitert deren Fähigkeiten für leistungsstarke Automotive-Testanwendungen. Die Lösung umfasst das NI PXIe-1480 FlexRIO Multiprotokoll-Vision-Carrier-Modul, das austauschbare Schnittstellenmodule für Tests von Automotive-Displays und Kameras unterstützt. Die ersten verfügbaren Schnittstellenmodule unterstützen FPD-Link IV, eine Hochgeschwindigkeits-Videoschnittstelle für die Automobilindustrie, die häufig in Fahrerassistenzsystemen (ADAS) und In-Vehicle-Display-Anwendungen eingesetzt wird.

Das NI PXIe-1480 FlexRIO Multiprotokoll-Vision-Carrier-Modul dient als Träger für austauschbare Schnittstellenmodule zur Validierung von Automotive-Displays und Kameras.

Da Fahrzeugarchitekturen zunehmend auf zentralisierte elektronische Steuergeräte (ECUs) setzen, müssen Ingenieure mehrere Hochgeschwindigkeitsschnittstellen in immer komplexeren Systemen validieren. Herkömmliche Testmethoden für Displays, die häufig auf Kameras oder visuellen Inspektionen basieren, begrenzen die Skalierbarkeit und führen zu Schwankungen in den Testergebnissen. Durch die direkte Anbindung an die SerDes-Ein- und Ausgänge (I/O) von ECU und Display verbessert der modulare PXI-basierte Ansatz die Testabdeckung durch automatisierte und deterministische Prüfverfahren. Das Ergebnis ist eine flexible, einheitliche Plattform, die Validierungsprozesse vereinfacht und die Wiederholbarkeit von Tests verbessert.

„Die zunehmende Komplexität moderner Automobilelektronik erfordert einen flexibleren und besser skalierbaren Ansatz für die Validierung“, sagt Sam Burhans, Chief Product Manager im Geschäftsbereich Test & Measurement von Emerson. „Diese modulare Architektur ermöglicht es Ingenieuren, ihre Testsysteme an neue Schnittstellenstandards anzupassen, ohne ihre gesamte Testumgebung neu entwickeln zu müssen.“

Das NI PXIe-1480 Trägermodul bildet die Grundlage dieser Architektur und unterstützt austauschbare Schnittstellenmodule, die auf spezifische Testanforderungen zugeschnitten sind. Zum Marktstart konzentrieren sich die verfügbaren Schnittstellenmodule auf Display-Testanwendungen. Emerson plant, die Plattform noch in diesem Jahr um weitere Schnittstellenmodule zu erweitern, die zusätzliche Kamera- und Display-Protokolle unterstützen.

Die Lösung richtet sich an Ingenieure in den Bereichen Automotive-Validierung und Produktionstest, darunter Tier-1-Zulieferer und Automobilhersteller (OEMs), und unterstützt Anwendungen in den Bereichen In-Vehicle-Infotainment, ADAS sowie autonomes Fahren.

Weitere Informationen zu den NI-Lösungen von Emerson für die Validierung von ADAS- und autonomen Fahrfunktionen finden Sie auf ni.com.