Device Testing with Digital Pattern Instruments, Schulung

Der Kurs „Device Testing with Digital Pattern Instruments“ vermittelt Ihnen, wie Sie Halbleitergeräte mit PXI-Messgeräten für Digitalmuster testen.

Der Kurs „Device Testing with Digital Pattern Instruments“ hilft Ihnen bei der Verwendung von PXI-Messgeräten für Digitalmuster und des Digitalmuster-Editors zur Durchführung von Gerätetests mit Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, Tests der digitalen Schnittstelle sowie dem Durchgang und Lecktests. Dieser Kurs führt Sie durch den vollständigen Test-Workflow, von der Kalibrierung und Fehlerbehandlung bis hin zur Erweiterung von Tests in ein Test Executive sowie dem Import eines Musters in ein Test Executive. Sie lernen, wie Sie alle Elemente erstellen und bearbeiten, die zum Burst eines digitalen Musters an Ihren Prüfling erforderlich sind, einschließlich Pin-Maps, Pegel-Tabellenblätter, Timing-Tabellenblätter und Musterdateien. Darüber hinaus behandelt der Kurs die Synchronisierung von Digital Pattern Instruments mit anderen Geräten in Ihren Systemen. Nach Abschluss dieses Kurses verstehen Sie, wie Sie die Betriebsmodi des Prüflings mit SPI-Befehlen testen und wie Sie die Kommunikation, das Timing und die Pinverbindungen des Prüflings validieren. Der Kurs „Device Testing with Digital Pattern Instruments“ wird Testingenieuren empfohlen, welche Charakterisierungs- und Produktionstests von Halbleitergeräten durchführen.

Um Ihre Anmeldung nach dem Kauf abzuschließen, reichen Sie bitte dieses Formular ein oder wenden Sie sich unter der Rufnummer 1-888-484-4436 an den Kundendienst, um Training Credits für Ihre Bestellung zu beantragen.

Der angezeigte Preis versteht sich zzgl. Mehrwertsteuer.