Der Kurs „Test Program Development with STS and LabVIEW“ bietet ein praktisches Training für die Einrichtung und Verwendung eines „Semiconductor Test System“ (STS) zur Kommunikation mit einem Prüfling. Der Kurs folgt dem typischen Halbleitertest-Workflow und den dafür üblichen Etappen, wie etwa der engen Interaktion mit der entsprechenden Hardware. Nach Abschluss dieses Kurses ist ein Testingenieur in der Lage, STS-Testerressourcen interaktiv zu verwenden, um Testprogramme mit vorhandenen Codemodulen zu erstellen, zu ändern, auszuführen und zu debuggen, wobei Testdaten und Testzeitreporte gesammelt werden.
Vor Ort (mit Kursleiter): 3 Tage
Online-Kurs (mit Kursleiter): Vier (4) Tage mit sechseinhalbstündigen Sitzungen plus Hausaufgaben – durchschnittlich zwei (2) Stunden täglich
Halbleitertestingenieure, die NI STS verwenden oder evaluieren, um einen Halbleiterproduktionstest oder eine automatisierte Großserien-Gerätevalidierung durchzuführen
Allgemeine Kenntnisse über Halbleitertestverfahren und -methoden
Grundlegende Computerkenntnisse
Grundkenntnisse des Testwesens
STS-Software-Bundle
Semiconductor Test System (STS)
Virtuelle Schulungen mit Kursleiter umfassen digitale Kursmaterialien, die über den Lernbereich von NI bereitgestellt werden.
Die virtuelle Schulung mit Kursleiter von NI wird über Zoom durchgeführt, und die Teilnehmer erhalten LogMein-Zugang, um die Übungen auf virtuellen Maschinen durchzuführen, die mit der neuesten Software ausgestattet sind.
Einrichten und Konfigurieren eines STS zum Testen eines Mischsignal-Halbleitergeräts
Verwenden von STS-Testerressourcen zum interaktiven Erstellen, Ändern, Ausführen und Debuggen eines Testprogramms mithilfe fertiger Codemodule
Erfolgreiche Kommunikation mit einem Prüfling
Verstehen und Modifizieren der Testprogrammarchitektur sowie das Konfigurieren des Ausführungsablaufs
Verwenden des „STS Project Tool“ zur Erstellung einer automatisierten Sequenz
Modifizieren und Ausführen eines Testprogramms sowie Datenerhebung
Arbeiten mit der Bedienoberfläche
Fehlerbehandlung von Geräten, Signalen und Testsequenzen mithilfe von Debug-Modulen
Sammeln von Testdaten und Erstellen von Testprotokollen
Benchmark-Testzeit
| Lektion | Übersicht | Themen |
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| Systemüberblick | Diese Lektion stellt das „NI Semiconductor Test System“ (STS) vor. |
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| Entdecken der NI-STS-Instrumentierung | Diese Lektion stellt die STS-Instrumentierung sowie -Ressourcen, deren Spezifikationen, Funktionen und Verwendungszwecke vor. |
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| Erstellen eines STS-Projekts | Diese Lektion erklärt, wie das „Create STS Project Tool“ verwendet wird. |
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| Zuordnen von STS-Hardware zu Prüflingspins | Diese Lektion behandelt, wie Sie eine Pinzuordnung erstellen und ändern. |
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| Erkunden des „Digital Pattern Instrument“ | Diese Lektion behandelt die Durchführung von Prüflingskontrollen und digitalen Tests mithilfe des „Digital Pattern Editor“. |
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| Validieren des Prüflingsverhaltens | Diese Lektion behandelt, wie Sie das Gerät in Betrieb nimmt, die Testerressourcen interaktiv steuern und einfache Tests implementieren. |
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| Erstellen und Bursten von Digitalmustern | Diese Lektion veranschaulicht, wie einfache Digitalmuster erstellt, geladen und geburstet werden. |
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| Entdecken der STS-Softwareentwicklungsumgebung | In dieser Lektion lernen Sie, wie Sie Schritte zur Testsequenz hinzufügen oder ein fertiges Codemodul aufrufen. |
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| Konfigurieren von Testprogramm und -schritten | Diese Lektion erklärt Ihnen Testschrittvorlagen, wie Sie Testgrenzwerte modifizieren, Binning konfigurieren, das Testprogramm ausführen und die Ergebnisse in einem Report zusammenfassen. |
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| Fehlerbehandlung | Diese Lektion behandelt die Fehlerbehandlung bei Geräten, Signalen und der Testsequenz. |
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| Arbeiten mit der STS-Bedienoberfläche | Diese Lektion behandelt die Ausführung eines Testprogramms über die Bedienoberfläche (OI) und die Erfassung der Socket-Zeit. |
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