Testprogrammentwicklung mit STS - .NET/C# Kursüberblick

Der Kurs Testprogrammentwicklung mit STS bietet praktische Schulungen zum Einrichten und Verwenden eines STS zur Kommunikation mit einem zu testenden Gerät. Der Kurs folgt dem typischen Kunden-Workflow und den Meilensteinen, die eine enge Interaktion mit der entsprechenden Hardware beinhalten. Nach Abschluss dieses Kurses ist ein Testingenieur in der Lage, STS-Testerressourcen interaktiv zu verwenden, um Testprogramme mit vorhandenen .NET/C#-Codemodulen zu erstellen, zu ändern, auszuführen und deren Fehler zu behandeln, wobei Testdaten und Testzeitreporte gesammelt werden.

Kursdetails:

Testprogrammentwicklung mit STS - .NET/C# Kursübersicht

Lektion Übersicht Themen

Einführung in STS

Erkunden Sie die Hauptkonzepte des Halbleitertestsystems (STS).

  • Einführung in die STS-Plattform

Erkunden des Testkopfs

Erkunden Sie die High-Level-Funktionen und E/A für den STS-Testkopf.

  • Übersicht über den STS-Testkopf
  • Erkunden der Ein- und Ausgänge des STS T1 M2

Erkunden von Lastplatinen

Entdecken Sie die High-Level-Funktionen des Device Interface Boards (DIB) und der verschiedenen Lastplatinen-Schnittstellentypen.

  • Übersicht der Lastplatinen
  • Kennenlernen von Lastplatinen-Schnittstellentypen
  • Anschließen einer DIB an das STS

Andocken und Verbinden mit dem STS

Beschreibung der Topologie einer typischen Testzelle und erkunden der verschiedenen Optionen zum Andocken eines STS.

  • NI STS-Standard-Andocken und -Schnittstellen
  • Automatisiertes Andocken-Beispiel

Kennenlernen der NI STS-Software

Entdecken Sie die Software, die Sie zum Überwachen, Warten, zur Fehlerbehandlung und zum Kalibrieren des STS verwenden. Entdecken Sie die Testentwicklungs- und Codemodul-Entwicklungsumgebung für STS.

  • Überblick über die STS-Software​
  • Einführung in die STS-Wartungssoftware​
  • Einführung in die Testentwicklungsumgebung​
  • Einführung in die Bedienoberfläche

Navigieren im Testentwickler-Workflow

Erkunden eines Beispiel-Workflows für Testentwickler und Beschreibung der wichtigsten Schritte.

  • Erkunden eines Beispiel-Workflows für Testentwickler

Untersuchung von STS-Sicherheitsanforderungen und -spezifikationen

Informieren Sie sich über die Sicherheitsanforderungen und -spezifikationen, die Sicherheitskonformität und die Umgebungsspezifikationen des STS-Systems und wenden Sie sie an.

  • Erkundung der Sicherheitsanforderungen des STS​
  • Gewährleistung der Sicherheitskonformität für das STS​
  • Erkundung der Umgebungsspezifikationen für das STS

Erkunden der Tester-Instrumentierung​

Erkunden der STS PXI-Plattform und gängiger STS-Instrumente.

  • Erkunden der NI PXI-Plattform​
  • Identifizieren der STS-Instrumentierung
  • Zusätzliche gebräuchliche STS-Instrumentierung​
  • Verwenden simulierter Hardware

Untersuchen der Systemspezifikationen

Erkunden der Eingangs- und Ausgangsspezifikationen für STS T1, T2 und T4.

  • Kennenlernen der STS-Systemspezifikationen
  • STS-Spezifikationen online erkunden

Kalibrieren eines STS

Erkunden der Kalibrierungsmodule und der im STS-System verwendeten Kalibrierungsarten.

  • Was ist Kalibrierung?
  • Navigieren in den STS-Kalibrierungsarten
  • Erkunden der in STS verwendeten Kalibrierungsmodule
  • Aktivieren der Aufwärmwartezeit für STS
  • Prüfen von DC-Durchgang/Funktionalität

Erstellen eines STS-Projekts

Erstellen eines Testprogramms und erkunden der Sequenzdatei und der Ordnerstruktur, die für das Testprogramm erstellt wurden.

  • Erstellen eines Testprogramms
  • Untersuchen der Ordnerstruktur
  • Erkunden der Testprogrammarchitektur

Erkunden von Pin-Maps

Erkunden des Zweck der Pin-Map und ihrer Rolle bei der Zuordnung von STS-Hardware zu Prüfling-Pins.

  • Was ist eine Pin-Map?​
  • Erkunden von Informationen in einer Pin-Map​
  • Besprechen der Dokumentation, die zum Erstellen einer Pin-Map erforderlich ist

Überprüfen einer Testerkonfiguration und eines Lastplatinen-Schaltplans

Erkunden der Standardtesterdokumentation, deren Inhalt und Zweck.

  • Erkunden der Prüfling-Spezifikationen​
  • Verfolgen eines Signals vom Instrument zum Prüfling

Abbildung von Messanforderungen

Zuordnen der Messanforderungen, um sicherzustellen, dass das System und seine ausgestatteten Instrumente die Messanforderungen im Testplan erfüllen können.

  • Abbildung von Messanforderungen
  • Anschließen von Instrumenten an Prüfling-Pins​
  • Zuweisen von Testerressourcen basierend auf einem Testplan

Zuordnen von Prüfling-Pins zu Instrumentenkanälen

Verwenden des Pin-Map-Editors, um Pin-Map-Dateien zu erstellen und zu ändern, die Prüfling-Pins Instrumentenkanälen zuordnen.

  • Hinzufügen und Konfigurieren eines Instruments mit dem Pin-Map-Editor​
  • Überprüfen von Pin-Map-Fehlern und -Warnungen​
  • Einrichten von Sitzungen mit mehreren Instrumenten

Verbinden mit dem Prüfling über das Device Interface Board

Beschreiben der verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Ihre Instrumente an eine DIB anschließen können, und identifizieren der verfügbaren Ressourcen, um Sie beim Entwerfen Ihrer eigenen Lastplatinen zu unterstützen.

  • Wie verbinde ich mein DIB mit meinen Instrumenten?​
  • Wie gestalte ich mein DIB?​
  • Anschließen des Prüflings an die DIB

Prüfen des Prüfling-Durchgangs

Verwenden des Digital Pattern Instruments, um den Prüfling auf Durchgang zu testen, bevor Sie andere Tests ausführen.

  • Was ist ein Durchgangstest?​
  • Welches Instrument verwende ich, um die Kontinuität des Prüflings zu überprüfen?​
  • Durchführen eines Durchgangstests

Inbetriebnahme des Prüflings

Verwenden des Digitalmuster-Editors, um das zu testende Gerät (Prüfling) aufzurufen, damit Sie mit dem Testen beginnen können.

  • Festlegen, wie der Prüfling eingeschaltet wird​
  • Einschalten des Prüflings

Messung des Ableitstroms

Verwenden des Digital Pattern Instruments, um den Ableitstrom für den Prüfling zu messen, bevor Sie andere Tests durchführen.

  • Was ist der erste Test, der nach der Inbetriebnahme durchgeführt wird?​
  • Durchführen eines Ableitstromtests

Vorbereiten der Kommunikation mit dem Prüfling

Identifizieren der einem digitalen Projekt zugeordneten Dateitypen und beschreiben der Dateien, die erstellt werden sollten, bevor ein digitales Muster für die Kommunikation mit dem Prüfling erstellt wird.

  • Erkunden der Inhalte eines digitalen Projekts​
  • Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen
  • Erstellen von Pegel-Tabellenblättern​
  • Timing-Tabellenblätter erstellen

Erstellen einfacher Digitalmuster zur Kommunikation mit dem Prüfling

Erstellen, bearbeiten, laden und bündeln grundlegender digitaler Muster, um mit dem Prüfling unter Verwendung des Digitalmuster-Editors zu kommunizieren

  • Erkunden vektorbasierter Muster​
  • Erstellen von Digitalmustern

Konvertieren vorhandener Digitalmuster

Konvertieren von Mustern, die in anderen Umgebungen entwickelt wurden, zur Verwendung im Digitalmuster-Editor.

  • Konvertieren vorhandener Musterdateien​
  • Demonstration: Konvertieren einer vorhandenen Datei

Untersuchung der Testsequenzdatei

Erkunden der Hauptkomponenten einer Testsequenzdatei und wie jede Komponente verwendet wird.​

  • Was sind die Komponenten einer Sequenzdatei?​
  • Identifizieren von Fensterbereichen im Sequenzdateifenster​
  • Erkunden der Testprogrammarchitektur

Hinzufügen von Schritten zu einer Testsequenz

Erfahren Sie, wie Sie Schritte in eine Testsequenz einfügen.​

  • Hinzufügen eines Schritts zu einer Sequenz​
  • Erkunden der Schritttypen​
  • Konfigurieren von Schritten

Erstellen und konfigurieren​ von Testschritten

Erstellen und konfigurieren von Testschritten, die Codemodule aufrufen, in einem STS-Projekt.

  • Was ist ein Codemodul?
  • Auswahl eines Ausgangspunkts für Halbleitertechnik-Testschritte​
  • Aufrufen von TSM-Testschrittvorlagen​
  • Aufrufen eines Halbleiter-Multitest-/Aktionsschritts​
  • Konfigurieren von Testschritteinstellungen

Verwenden von Testschrittvorlagen​

Beschreiben der verschiedenen verfügbaren Schrittvorlagen und deren Verwendung als Teil einer Testsequenz.​

  • Erstellen einer Testsequenz mit Schrittvorlagen

Steuern der TestStand-Ausführung

Führen Sie eine Testsequenz aus und ändern Sie die Testsequenz so, dass sie je nach Testbedingungen oder Einstellungen unterschiedlich ausgeführt wird.​

  • Ausführen einer Testsequenz
  • Daten verwalten und teilen​
  • Verwenden von Ablaufsteuerungsschritten zum Ändern des Ausführungsablaufs​
  • Verwenden von Ausdrücken zum Zugreifen auf oder Ändern von Daten​
  • Ändern der Ausführung aufgrund eines fehlgeschlagenen Tests

Festlegen von Testgrenzwerten

Erstellen, erkunden und importieren Sie Testgrenzen, um Ihre Testsequenzen für verschiedene Szenarien schnell zu aktualisieren.​

  • Exportieren Ihrer Testgrenzen​
  • Importieren Ihrer Testgrenzen​
  • Hinzufügen Ihrer Testgrenzwertdateien

Erstellen von Testkonfigurationen

Verwenden Sie den Testprogramm-Editor und Ihre Testanforderungen, um Testkonfigurationen für Ihr System zu erstellen.​

  • Erstellen von Testkonfigurationen
  • Definieren mehrerer Testabläufe

Binning von Prüflingen basierend auf Testergebnissen​

Beschreiben Sie die verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Prüflinge basierend auf den Testergebnissen kategorisieren und eine Binning-Strategie implementieren können.​

  • ​Übersicht über Binning​
  • Einstellen der Intervall-Definitionsdatei​
  • Erstellen von Hardware- und Software-Intervallen

Konfigurieren der Ausführung eines Testprogramms​

Konfigurieren und Ausführen eines Testprogramms in der Testentwicklungsumgebung.

  • Konfigurieren von Stationseinstellungen​
  • Konfigurieren, wie TestStand Testergebnisse meldet​
  • Konfigurieren von Stationsoptionen​
  • Konfigurieren, wie TestStand Ihre Codemodule ausführt​
  • Ausführen Ihres Testprogramms

Erstellen von Testberichten

Implementieren einer Ergebnissammlungs- und Testberichtsstrategie in TestStand.

  • ​Konfigurieren von Berichtsoptionen​
  • Auswählen eines Berichtsformats​
  • Generieren eines ATML-Berichts​
  • Konfigurieren der Testergebnissammlung

Fehlerbehandlung eines Testprogramms

Verwenden Sie die integrierten TestStand-Funktionen, um Probleme in einer Testsequenz zu identifizieren und zu beheben.

  • Ablaufverfolgung des Testprogramms​
  • Pausieren und Durchlaufen der Ausführung​
  • Behandeln von Ausführungsfehlern

Fehlerbehandlung-Szenarien erkunden

Behandeln Sie Fehler eines Testprogramms in verschiedenen unerwarteten Situationen.

  • ​Fehlerbehandlung
  • Fehlerbehandlung von fehlgeschlagenen Tests

Benchmarking der Testzeit

Identifizieren und beheben Sie Probleme, die die Codeausführungsgeschwindigkeit einschränken.​

  • Benchmarking der Testzeit
  • Optimierung der TestStand-Ausführungsgeschwindigkeit​
  • Optimieren der Hardware-Ausführungsgeschwindigkeit

Interaktion mit Testerressourcen zur Fehlerbehandlung von Problemen​

Verwenden Sie InstrumentStudio, um mit Testerressourcen zu interagieren, um Testprobleme zu beheben.

  • Überblick über InstrumentStudio​
  • Fehlerbehandlung von DC-Leistungsinstrumenten​
  • Fehlerbehandlung von Oszilloskopen​
  • Fehlerbehandlung von Treibersitzungen​
  • Fehlerbehandlung mehrerer Instrumente​
  • Exportieren von Daten für zusätzliche Analysen

 

Einsatz des Digitalmuster-Editors zur Fehlerbehandlung

Verwenden Sie Werkzeuge im Digitalmuster-Editor, um Testfehler weiter zu behandeln.

  • Übersicht zur Fehlerbehebung mit dem DPE​
  • Pin-Status in Echtzeit anzeigen​
  • Fehlerbehandlung für Musterausführung​ durchführen
  • Fehlerbehandlung des digitalen Oszilloskops​
  • Analysieren von Testergebnissen basierend auf Parameter-Wobbeln

Ausführen einer Sequenz mit der STS-Bedienoberfläche​

Führen Sie ein Testprogramm mit der NI Halbleitertest-Bedienoberfläche (OI) aus und erhalten Sie die wahre Buchsenzeit.

  • Übersicht über die Bedienoberfläche​
  • Konfigurieren und Ausführen einer Charge
  • Anzeigen der Testergebnisse und Reporte

Beginnen Sie noch heute mit der Testprogrammentwicklung mit STS - .NET/C#